판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9119668

ACCRETECH/TSK UF 200SA는 샘플의 표면을 정확하게 측정하고 분석하도록 설계된 전문가입니다. 수동 XY 스테이지 (XY Stage) 와 레이저 자동 초점 장비 (Laser Auto Focus Equips) 가 장착되어 있어 사용자가 샘플의 표면을 정확하게 배치하고 프로파일링할 수 있습니다. 스캐닝 면적은 200mm x 200mm로, 높은 해상도로 큰 샘플을 측정 할 수 있습니다. TSK UF200SA의 이미징 시스템은 고해상도 2 메가 픽셀 CCD 캡처와 높은 동적 범위 이미징이있는 CCD (Charge Coupled Device) 카메라를 사용합니다. 조정 가능한 광원과 내장 광학으로, 정확한 표면 측정에 최적화되어 있습니다. Prober는 소프트웨어 기반 제어를 사용하여 정확한 측정, 강력한 이미지 분석 기능을 제공합니다. 이미지 분석 기능에는 서피스 추적, 보간, 이층 측정 및 z 점수 계산이 포함됩니다. 이 프로버는 통합 카메라와 흰색 광원, 디지털 현미경, 자동 초점 장치 (auto focus unit) 로 설계되었습니다. 자동 초점 기계는 샘플 서피스를 3 차원 공간으로 정확하게 매핑 할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플 서피스의 디지털화된 고도로 상세한 맵을 캡처할 수 있습니다. 디지털 현미경 (digital microscope) 은 광학 도량형 (optical metrology) 과 디지털 이미지 상관 관계를 수행할 수 있으며, 물리적 측정 없이도 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 작은 영역에서 정확하게 측정 할 수있는 디지털 신호 처리 도구 (Digital Signal Processing Tool) 가 있습니다. 프로버는 또한 힘 신호 및 편향 크기를 정확하게 측정하기위한 6 축 힘 센서 장치를 포함합니다. 사용자는 포함된 분석 제품군 중 하나를 사용하여 ACCRETECH UF 200 SA prober를 사용하여 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이러한 스위트에는 진동 및 변형 분석, 주파수 분석, 포괄적 인 표면 측정 및 분석 스위트가 포함됩니다. 커브 피팅 (curve fitting) 및 서피스 분석 소프트웨어를 사용하여 서피스 마무리, 평면도, 레벨, 피치 정밀도 등의 서피스 특성을 분석할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF 200 SA는 금속, 도자기에서 펠트 및 조직에 이르기까지 광범위한 샘플을 정확하고 깊이 분석 할 수있는 다목적 전문가입니다. 직관적인 사용자 인터페이스 및 내장 분석 제품군을 통해 정확한 표면 측정 및 분석을 수행할 수 있습니다.