판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200S #9365979

ACCRETECH/TSK UF 200S Prober는 집적 회로 테스트를 위해 설계된 완전 자동 웨이퍼 프로브 스테이션입니다. 이 장비는 테스트를 위해 기판을 자동으로 찾아서 배치하고, 웨이퍼 매핑 기능을 제공합니다. 단일 BT (BT = Solder Paste) 카드의 슬라이스와 칩을 포함하여 다양한 반도체 기판을 조사하는 데 이상적입니다. TSK UF200S Prober는 통합 환경 제어 시스템 (Environmental Control System) 과 빠른 열 사이클링 (Thermal Cycling) 을 사용하여 웨이퍼 표면에서 일관된 온도를 유지할 수 있으므로 쉽게 지형 스캐닝 및 웨이퍼 다이킹을 수행할 수 있습니다. 자동화된 웨이퍼 포지셔닝 장치 (Automated Wafer Positioning Unit) 는 전체 웨이퍼 표면에 걸쳐 빠르고 정확한 정렬을 제공하며 운영 및 엔지니어링 애플리케이션 모두에서 반복 가능한 데이터를 제공합니다. 프로버에는 4 개의 큰 척판과 2 개의 작은 척판이 포함되어 있으며, 여기에는 다양한 기판을 수용 할 수 있습니다. 통합 접촉 센서 및 정렬 카메라는 정확하고 반복 가능한 Probe 포지셔닝 및 정렬을 위해 사용됩니다. ACCRETECH UF 200 S 기계는 고정밀 보정 및 측정용으로 설계되었으며, 가변 프로브 팁 및 사용자 정의 컨택터 매개변수 제어를 지원합니다. ACCRETECH UF 200S Prober에는 특허를 획득한 빠른 주기 시간 (Fast Cycle Time) 기능이 장착되어 있어 추가 계측이 필요 없으며 Probe 시간이 크게 단축됩니다. 이 기능은 또한 On-Wafer Probing 및 Off-Wafer 측정을 포함하여 더 나은 웨이퍼 레벨 테스트 및 특성 결과를 생성합니다. TSK UF 200S Probing Tool은 매핑, 전기 테스트 데이터 수집 및 분석 프로그램, 웨이퍼 정렬, 리버스 엔지니어링 등 포괄적인 소프트웨어 툴을 통해 지원됩니다. 완벽하게 자동화되고 통합된 테스트 환경을 제공함으로써, 이 자산은 수작업 (Manual Intervention) 과 오류 (Error) 를 제거하고 효율성을 향상시킵니다. TSK UF 200 S Prober는 생산 운영, 품질 보증, DFx 및 전자 제조 및 연구 실험실의 특성 작업에 사용하기 위해 탁월한 선택입니다. 환경 관리, 고정밀 보정 (high-precision calibration), 반복 가능한 데이터 (repeatable data) 및 빠른 주기 (fast cycle time) 의 조합으로 모든 고급 테스트 및 특성 응용 프로그램에서 귀중한 자산이 됩니다.