판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200S #9365978

ACCRETECH/TSK UF 200S는 웨이퍼 및 기타 반도체 장치의 조사 및 특성을 위해 설계된 반자동, 범용 전문가입니다. 연락 저항성, 장치 어드미턴스 및 플립 칩 스케일 커패시턴스를 측정 할 수있는 포인트 앤 샷 (point-and-shot) 장비입니다. 프로버 (Prober) 는 또한 다양한 테스트 다이아몬드로 커스터마이즈 전기 테스트 (customized electrical test) 를 설정할 수있는 기능을 제공하여 다양한 장치 형상을 최적으로 조사 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 스테인리스 스틸 일반 프레임 (Stainless Steel General Frame) 으로 구성되어 모든 구성 요소에 쉽게 액세스 할 수 있도록 4 세트의 로드 및 프로브 단계를 지원합니다. 다중 장치 프로브에 옵션 지그 테이블을 추가할 수 있습니다. 또한 3, 4, 5, 6, 7 및 8 "웨이퍼를 수용 할 수있는 스테이지 어댑터 (옵션) 가 있습니다. TSK UF200S는 작은 IC 패키지에 정확한 프로브 배치에 정확한 포인트 및 샷 프로브 헤드를 사용합니다. 프로브 헤드는 또한 광범위한 프로브를 수용하기 위해 상호 교환 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 통합 레이저 포지셔닝 시스템이 있으며, 작은 패드와 플립 칩 장치의 깊은 비아 (vias) 에 프로브를 정확하게 배치합니다. 이 장치는 수동 (manual) 및 자동화된 (automated) 작업과 함께 작동하여 자동화된 주기에 따라 정밀한 수동 검증 또는 반복 가능한 Probe를 정렬할 수 있습니다. 또한 정확한 초점 정렬을 보장하는 광학 초점 기계가 있습니다. ACCRETECH UF 200 S에는 통합 소프트웨어와 직관적인 터치 스크린 인터페이스가 있으며, Prober 운영 및 데이터 분석을 단순화합니다. 이를 통해 사용자는 특정 테스트 요구 사항에 따라 매개변수를 수정하고, 정기적으로 사용되는 설정을 사전 설정된 프로그램으로 저장할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 다양한 프로브 라이브러리를 포함하여 다양한 사용자 정의 및 설정 도구가 포함되어 있습니다. TSK UF 200S는 CE 인증을 받았으며 UL/CSA가 상장되어 안전하고 안정적인 운영을 보장합니다. 전자 및 반도체 실험실, 생산 부서 (예: 웨이퍼 레벨 패키징, 다이 레벨 특성) 에 적합합니다.