판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200S #9365976
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ID: 9365976
빈티지: 1997
Prober
Non-functional parts:
Z-Unit (Bearing has deteriorated)
Y-Axis moire scale
1997 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200S는 반도체 실험실 설정에서 웨이퍼 및 기판을 조사하고 분석하는 데 사용되는 프로버입니다. 프로버 (Prober) 는 라이브 피드백 (Live feedback) 장비를 활용하여 웨이퍼를 정확하게 찾고, 프로버를 움직이는 고정밀 선형 모터 스테이지 (Linear Motor Stage) 를 사용하는 완전 자동화 장치입니다. 그것은 30Kg 용량을 특징으로하며, 무거운 웨이퍼와 기판을 처리 할 수 있습니다. 이 프로버에는 프로브를 측정, 정렬 및 교정하는 데 사용되는 방진 비전 시스템과 EFEM (Equipment Functional Electrical Model) 이 장착되어 있습니다. 또한, 테스트 중인 웨이퍼 (wafer) 또는 기판 (substrate) 유형에 따라 다른 응용 프로그램에 대해 여러 가지 유형의 프로브를 포함합니다. 프로브를 수동으로 변경할 수 있으며, 교정 및 정렬 프로세스도 자동화됩니다. 이 검사는 시각 시스템, 임베디드 소프트웨어, CAD 또는 CAD/CAE 도구, EDFA (Encoder Digital Frequency Analyzer) 및 기타 검출기를 포함한 다양한 소스의 외부 데이터를 허용하도록 구성됩니다. 이를 통해 데이터를 Prober와 통합하여 정확하고 효율적인 Wafer Testing Unit을 만들 수 있습니다. 또한 Prober는 프로그래밍, 다중 사이트 테스트, 장치 인덱싱 및 분석, 레티클 분석 및 확인, 전기 테스트, 광학 및 XRD 분석, 패라메트릭 테스트, 현지화 측정 및 S/N 분석 등 다양한 자동 테스트를 위해 임베디드 소프트웨어를 활용할 수 있습니다. 또한 TSK UF200S 는 잠재적인 안전 사고 (Safety Hazard) 를 사용자에게 알리는 자동 감지 장치 (Auto-Detection Machine) 와 긴급 상황을위한 사용자 정의 비상 정지 도구 (Emergency Stop Tool) 를 포함하여 다양한 안전 옵션으로 설계되었습니다. 또한, 프로버에는 다양한 현미경 줌 및 포커스 옵션과 다양한 프로버 척 (prober chuck), 웨이퍼 카세트 및 샘플 홀더 옵션이 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH UF 200 S는 신뢰할 수 있고 다재다능한 검사로, 다양한 웨이퍼 및 기판을 효율적으로 테스트 할 수 있습니다. '테스트 (testing)', '데이터 수집 (data collection)', '안전 (safety)', '테스트 (test)' 등 다양한 기능을 갖추고 있다.
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