판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200S #9243577

ACCRETECH/TSK UF 200S Prober는 반도체 산업의 실리콘 또는 기타 재료의 웨이퍼 조사 및 테스트를 위해 설계된 사용자 친화적 인 장치입니다. Visual/Electrical Check, Measuration, Testing 기능 등 다양한 애플리케이션을 지원하는 완전 자동화 장비입니다. TSK UF200S Prober는 매우 정밀한 수동 및 자동 툴링 기능을 갖춘 강력한 단계 설계를 갖추고 있습니다. X/Y/Z 작업 공간이 큰 3 축 시스템을 사용하여 정확한 다이 배치 및 프로브를 허용합니다. 또한 다양한 프로브 카드 (Probe Card) 를 지원하므로 다양한 웨이퍼 유형, 모양, 크기에 이상적인 솔루션입니다. 이 장치는 또한 다양한 자동 레벨링 (auto-leveling) 및 이동 기능을 제공하여 다이 (die) 또는 디바이스 패드를 조사 할 때 정확도를 높입니다. ACCRETECH UF 200 S Prober는 나노 미터 수준의 정확성과 반복 성을 달성 할 수 있습니다. 터치리스 프로브 (Touchless Probe), 센서 프로브 (Sensor Probe), 블레이드 프로브 (Blade Probe) 와 같은 다양한 고정밀도 프로브 구성 요소를 활용하여 장치를 항상 신뢰할 수있는 데이터와 측정을 수집 할 수 있습니다. 또한, 고급 소프트웨어 제어 (Advanced Software Control) 는 프로그래밍 가능한 명령 세트를 사용하여 광범위한 장치와 구성 요소를 테스트할 수 있습니다. 이 기계에는 테스트 속도와 정확도를 향상시키는 강력한 도구 (Suite of Powerful Tools) 도 포함되어 있습니다. 오실로스코프 (Oscilloscope) 기능은 뛰어난 동적 해상도를 제공하여 기술자가 신속하게 문제를 해결하고 소음의 원인을 식별할 수 있습니다. 또한 OptiCheck 기능을 사용하면 트랜지스터, 저항기, 커패시터의 전기적 특성을 정확하고 빠르게 측정하여 사전 정의된 한계에 속할 수 있습니다 (영문). TSK UF 200 S Prober는 또한 여러 개의 경보 및 모니터 표시기를 갖추고 있으며, 테스트 중에 사용자에게 광범위한 제어 기능을 제공합니다. 전반적으로 UF 200 S 프로버 (UF 200 S Prober) 는 강력하고 실용적인 장치로, 사용자에게 신뢰할 수있는 테스트 데이터를 제공하며, 광범위한 구성 요소와 기판을 정확하고 정확하게 조사하도록 설계되었습니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 통합된 정확한 툴링 (tooling) 및 소프트웨어 제어 (software control) 기능을 통해 다양한 웨이퍼 테스트 어플리케이션에 이상적인 솔루션이 됩니다.