판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200S #9126398

ACCRETECH/TSK UF 200S는 뛰어난 해상도, 뛰어난 안정성 및 빠른 프로빙 속도를 갖춘 전문가입니다. 마이크로피처 (microfeature) 장치의 자동 검사 및 테스트 전용 시스템이다. TSK UF200S는 높은 정확도의 X-Y 스캔 단계를 갖추고 있으며, 신뢰성이 높은 웨이퍼 척 (wafer chuck) 및 거친 수준의 조정 마이크로 게이지 스테이지가 포함되어 있습니다. X-Y 스캐닝 스테이지에는 3 차원 스캐닝이 있으며, 각 테스트 지점에 안정적으로 정렬 할 수 있습니다. ACCRETECH UF 200 S는 고유 한 시스템을 사용하여 XY 스테이지의 기계적 정밀도와 3D 플렉스 스테이지의 유연성을 결합한 우수한 프로브 결과를 제공합니다. 특수 설계 된 웨이퍼 척 (wafer chucks) 은 100mm에서 200mm까지의 웨이퍼를 수용하도록 설계되었으며, 프로브 중 최적의 정렬을 위해 매우 정밀한 프로버 헤드를 mm 수준으로 조정할 수 있습니다. 프로버 헤드 (Prober Head) 에는 다양한 장치와 기판을 조사하고 테스트하는 데 필요한 여러 가지 팁이 있으며, 다양한 장치를 테스트하는 다양한 솔루션 (Solution) 이 있습니다. 통합 자동화 (Integrated Automation) 소프트웨어를 사용하면 로봇 모션 프로그램을 손쉽게 생성, 수정, 애니메이션하여 자동 프로브 및 테스트를 수행할 수 있습니다. UF 200 S는 높은 정확도를 제공하여 20 C에서 150um의 최대 반복 성을 제공하여 장치 추적 가능성에 이상적입니다. 또한 프로브 (Probe) 를 선택할 수 있으며, 이를 통해 웨이퍼 두께 (Wafer Thickness) 와 재료 (Material) 에 따라 최적의 프로브 크기와 모양을 선택할 수 있습니다. 또한 이 시스템은 사용이 간편한 직관적인 사용자 인터페이스 (User Interface) 와 광범위한 표준 테스트 프로파일 라이브러리 (Library of Standard Test Profile) 를 포함하는 소프트웨어 (Software) 를 갖추고 있어 테스트 및 프로그램을 신속하게 설정할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF 200 S는 빠른 조사 속도를 제공하면서 뛰어난 해상도와 안정성을 제공하도록 특별히 설계되었습니다. 고급 기능과 통합 소프트웨어 (Integrated Software) 는 다양한 디바이스를 평가할 수 있는 유연성과 정확성을 제공합니다. 또한, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 초보자 사용자조차도 쉽게 사용할 수 있으며, 이를 통해 테스트와 프로그램을 빠르고 쉽게 설정할 수 있습니다.