판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200S #9091008

ACCRETECH/TSK UF 200S는 반도체 웨이퍼 테스트에 사용되는 전문가입니다. 반도체 웨이퍼 (Wafer) 의 회로 패턴 및 매개변수에 대한 전기적 테스트를위한 완전 자동화 된 접촉없는 프로브 장비입니다. 이 프로버는 최대 샘플 직경 200mm 및 0.1mm 피치 해상도의 5 축 시스템을 특징으로하며, 훨씬 작은 샘플을 정확하게 테스트하도록 설계되었습니다. 이 장치는 완전히 자동화된 XYZ 변환 단계, 인코더로 제어되는 위치 정확도의 고속 모터 (High Speed Motor) 로 설계되었습니다. 또한 6.3mm x 6.3mm 프로브 스트로크, 확대 된 수동 스테이지 및 유연한 바늘 포지셔닝 머신이 있습니다. 바늘 홀더는 X, Y 및 Z 축으로 구동 할 수 있지만, 샘플 홀더는 동일한 X, Y 및 Z 축 방향으로 작동 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 프로브 범위 해상도를 최대 0.7까지 측정하고 반복 성을 최대 0.6까지 측정하여 고밀도 프로브에 적합합니다. 또한, 이 도구에는 통합 디지털 현미경이 장착되어 있어, 뛰어난 시각적 관찰을 제공하며, 탐사선 및 측정치의 정확성을 향상시킵니다. 보다 포괄적인 테스트를 위해, 자산에는 통합 테스트 관리 소프트웨어와 오프라인 (off-line) 분석 도구가 있습니다. 이를 통해 사용자는 테스트 조건을 손쉽게 프로그래밍하고 테스트 프로세스를 효율적으로 모니터링할 수 있으므로 품질 보증 (Quality Assurance) 을 강화할 수 있습니다. 다른 기능으로는 손쉬운 모델 작업을 위한 원격 사용자 인터페이스 (touch-screen LCD 패널 포함) 와 추가 소프트웨어 패키지 (예: 여러 데이터베이스에 액세스할 수 있는 기능, 통계 프로세스 제어) 가 있습니다. TSK UF200S 는 테스트 반도체 웨이퍼 (wafer) 의 가장 까다로운 요구 사항을 충족하도록 설계된 안정적이고 정확한 전문가입니다. 이 Prober는 통합된 기능과 향상된 소프트웨어 (Enhanced Software) 를 통해 품질 보증 (Quality Assurance) 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계되었으며, 이를 통해 프로세스와 결과를 보다 잘 파악할 수 있습니다.