판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200R #9269335

ACCRETECH/TSK UF 200R은 장애 분석, 재료 특성 및 프로세스 모니터링을위한 고해상도 이미징을 제공하도록 설계된 SEM (Dedicated-Probe Scanning Electron Microscope) 입니다. 통합 디지털 전자 제품 및 사용자 친화적 운영으로 인해 TSK UF200R은 많은 SEM 응용 프로그램에 이상적인 선택이되었습니다. ACCRETECH UF 200 R은 최대 150nA의 e-beam 전류, 1.7nm 소스 스팟 해상도, 최대 20,000X 확대 및 최대 10mm 시야의 감지 시스템을 제공합니다. 또한 조준 빔 가이드 (Going Beam Guide) 와 디지털 레티클 (Digital Reticle) 이 장착되어 있어 관심 영역을 쉽게 찾을 수 있습니다. 또한 LOD가 20nm인 최대 200nm 두께의 샘플을 이미지 할 수 있습니다. TSK UF 200 R에는 다양한 각도 측정이 가능한 가변 각도 기울기 단계가 있습니다. 여기에는 데이터를 정확하고 빠르게 기록하는 통합 측정 시스템이 포함되어 있으며, 동일한 인터페이스에서 표본 두께 (thickness), 관찰 모드 (observation mode), 양식 (form), 다양한 흥분 모드 (excitation mode) 간 전환을 선택할 수 있습니다. 또한 UF 200 R에는 이미지 편집기, 마커, 품질 검사, 스펙트럼 분석, 영화 효과, 색상 제어 등의 포괄적인 이미지 처리 및 분석 패키지가 제공됩니다. 또한 X-ray 마이크로 분석, 광학 압축, 원소 매핑, 이미지 대비 향상 등을 수행하기 위한 광범위한 분석 도구를 제공합니다. ACCRETECH/TSK UF 200 R은 가장 복잡한 SEM 이미징 및 분석 작업을 손쉽고 효율적으로 수행할 수 있습니다. 컴팩트한 디자인, 고속 스캔, 정교한 소프트웨어를 통해 품질 관리, 장애 분석, 재료 특성, 프로세스 모니터링에 이상적인 툴이 됩니다.