판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200R #293589187

ACCRETECH/TSK UF 200R Prober는 웨이퍼 생산 프로세스를 검증하기위한 다재다능하고 신뢰성이 높은 검사 시스템으로, 소형에서 초대형 (extra-large) 까지 광범위한 웨이퍼를 샘플링하는 데 중점을 둡니다. 즉, 디바이스 및 프로세스 성능을 측정하는 데 있어 높은 수준의 정확성과 정확성을 제공합니다. TSK UF200R Prober는 광학 및 전기 측정에서 소규모 및 대용량 스캔, 시각적 검사를 위한 2D MICROSCAN (MICROSCAN) 에 이르기까지 다양한 프로세스 평가를 수행하는 데 사용하기 쉽고, 고성능, 비용 효율적인 솔루션입니다. ACCRETECH UF 200 R Prober는 광학, 이미징 및 전기 도량형 시스템의 조합으로 설계되어 반도체 장치 매개변수의 가장 정확하고 정확한 측정을 제공합니다. 각 도구는 효율적이고 정확한 작동, 즉 스펙트럼 방사선, 전기 측정, 이미지 분석 및 새로 추가 된 2D MICROSCAN 등 4 가지 도구를 선택할 수 있습니다. 이 기기의 개방형 아키텍처 (open architecture) 는 다양한 유형의 광원 (Light Source) 및 광 구성 요소와 호환되므로 사용자가 기기의 정확성과 해상도를 극대화할 수 있습니다. UF200R은 또한 매우 민감하고 정확한 전동 커패시터를 갖추고 있으며, 최대 50 kHz의 샘플링 속도에서 초고속 광학 측정 및 강력한 성능을 제공합니다. 이 기능을 사용하면 빠른 측정, 높은 처리량, 웨이퍼 (Wafer) 생산 프로세스에 대한 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 프로버의 전기 측정 시스템은 또한 회로의 전기 성능 (예: 저항, 정전, 접합 전압) 에 대한 빠른 고해상도 측정을 가능하게합니다. ACCRETECH/TSK UF200R 은 또한 시스템 운영을 간소화하는 포괄적인 소프트웨어 패키지 (Software Package) 를 갖추고 있으며, 데이터 분석을 위한 혁신적인 옵션으로 측정값을 신속하게 설정하고 실행할 수 있습니다. 여기에는 그래픽 디스플레이 및 이미지 분석 도구 (표면 지형 및 미크론 레벨 플로팅 기능 포함) 가 포함됩니다. 또한 데이터베이스 링크 액세스, Web Remote Control, Secure Password Protection 등 다양한 접속 옵션을 제공합니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF 200 R은 정확하고 정확한 웨이퍼 프로세스 평가를 수행하기 위해 효과적이고 신뢰할 수있는 도구입니다. 최첨단 기술과 강력한 소프트웨어 (Software) 의 조합으로, 뛰어난 정확도와 정확도로 안정적이고 빠른 측정이 가능합니다. 다양한 기능을 갖춘 TSK UF 200R 은 운영 프로세스 확인, 다양한 웨이퍼 샘플링, 고급 분석 (advanced analysis) 등에 적합합니다.