판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200H #9396524

ACCRETECH/TSK UF 200H prober는 사용자에게 정확하고 높은 정확도 샘플 분석을 제공하기 위해 설계된 정밀 측정 도구입니다. 이 도구는 특히 사용자에게 나노 스케일 샘플 크기의 정확한 측정을 제공하여 새로운 재료, 장치, 시스템의 연구 개발 (R&D) 과 관련된 모든 조직에 필수품입니다. TSK UF 200H 프로버는 SEM (non-contact scanning electron microscopy) 샘플 측정을 위해 설계된 고정밀 프로버입니다. 첨단 내장 레이저 간섭계는 샘플에 영향을 미치지 않고 마이크로 미터 (micrometer) 및 나노 미터 (nanometer) 범위의 표면 및 지표면 재료 특성을 측정합니다. 결과적으로 공구는 서피스 거칠기 (surface roughness), 선 너비 (line width), 접촉 저항 (contact resistance) 과 같은 특성을 정확하게 측정할 수 있습니다. 또한, Prober는 사용자에게 XY, X-Y-Z, 직류 및 교류 등 다양한 측정 범위 옵션을 제공합니다. 프로버의 500mm 스테이지는 또한 뛰어난 가공소재 크기의 유연성을 제공합니다. 또한, 사용자는 임베디드 (Embedded) 컴퓨터 제어 소프트웨어를 사용하여 스테이지의 이동 및 측정을 제어할 수 있습니다. 또한 scanning 매개 변수를 원격으로 설정하고 측정 결과를 저장할 수도 있습니다. ACCRETECH UF 200H Prober는 고급 반도체 설계 및 제조 장비 분야의 선도적 인 글로벌 조직인 SEMI의 인증을 받았습니다. 이 인증은 가장 현대적인 테스트 장비 (Testing Equipment) 로 실험실을 설정하려는 사람들에게 안정적이고 강력한 선택 도구를 제공합니다. 작동 측면에서 UF 200H 전문가는 유지 보수 또는 교정이 거의 필요하지 않습니다. 따라서 비용 절감 효과를 극대화할 수 있는 경제적인 솔루션입니다 (영문). 이 도구는 또한 내장 진동 댐퍼 (vbration damper) 와 음향 인클로저 덕분에 환경 준수를 강화했습니다. ACCRETECH/TSK UF 200H prober는 정확도, 정확도 및 사용 용이성으로 인해 나노 스케일 샘플을 측정하려는 사람들에게 이상적인 도구입니다. 광범위한 측정 범위 옵션, 고급 인증 (High-Level Certification), 사용자 정의 가능한 설정 (Customizable Setup) 을 통해 사용자는 견본 테스트를 최대한 활용해야 하는 유연성을 얻을 수 있습니다.