판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200AL #9283863

ACCRETECH/TSK UF 200AL 프로버는 반도체 장치 프로브에 사용되는 최첨단 장비로, 개별 장치 조사 및 테스트를위한 포괄적 인 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 사용자가 테스트 데이터를 정확하고 신속하게 제공할 수 있는 지능형 (Intelligent) Probing 솔루션을 제공합니다. TSK UF200AL은 120MHz 완전 디지털 샘플 및 디지털 오실로스코프를 사용하여 +/- 5n의 타이밍 정확성과 정렬 정확도를 제공합니다. 즉, 고속 테스트 애플리케이션과 단일 디바이스 측정에 적합합니다. 또한 자동 신호 분석 (Automated Signal Analysis) 기능을 제공하여 다중 테스트 통과 및 정확한 결과 반복성을 제공합니다. Probe 장치는 Prober 카드와 광학 Telecentric 렌즈 어셈블리로 구성됩니다. Prober 카드는 기계의 핵심 구성 요소이며, 지능형 신호 분석 도구를 포함합니다. 신호 경로와 신호 분석을 제어합니다. 신호 경로는 고정밀 스테퍼 모터, 정밀 변환기 및 정확한 정렬을 위한 높은 정확도 에셋으로 구성됩니다. 광학 통신 렌즈 (telecentric lens) 어셈블리는 광 빔을 사용하여 이상적인 광학 경로에서 벗어나지 않고 장치의 신호를 정확하게 감지하고 측정합니다. 이는 극한의 상황에서도 장치의 신호를 정확하게 측정합니다. 또한 이 렌즈를 사용하면 최적의 성능을 위해 광학 전원 (optical power), 광원 강도 (light intensity), 광학 빔 크기 (optical beam size) 와 같은 변수를 조정할 수 있습니다. ACCRETECH UF 200 AL에는 또한 사용자가 장치 테스트 및 신호 분석 매개변수를 프로그래밍 할 수있는 대화식 사용자 인터페이스 (interactive user interface) 가 있습니다. 따라서 테스트 및 맞춤형 테스트 환경을 쉽게 설정할 수 있습니다. 이 모델은 또한 DC, 동적 (Dynamic), 노이즈 (Noise) 테스트와 같은 다양한 테스트 유형을 제공하여 다양한 테스트 환경을 시뮬레이션할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF 200 AL에는 결과를 저장하는 통합 데이터베이스가 있으며, 장비는 광범위한 데이터 로깅 및 보고 기능을 제공합니다. 이 데이터베이스는 이더넷 (Ethernet) 또는 Wi-Fi (Wi-Fi) 를 통해 액세스할 수 있으므로 사용자가 Probe 및 테스트 결과를 실시간으로 유지할 수 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH UF200AL Prober는 어플리케이션의 조사 및 테스트를 위한 포괄적인 솔루션입니다. 첨단 시스템 (Advanced System) 은 다양한 애플리케이션에서 정확하고 반복 가능한 결과를 제공할 수 있는 고급 시스템입니다. 여러 변수를 조정하는 능력은 과학과 공학 실험, 구성요소 평가 (component evaluation), 장치 특성 (device characterization) 에 이르기까지 다양한 응용 프로그램에 이상적인 단위입니다.