판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200AL #9233249

ACCRETECH/TSK UF 200AL은 서로 다른 재료 전도 경로의 가장 작은 접촉 내성 (주로 회로 경로가 0.5äm 이하인 재료) 을 측정하기위한 근접 필드 프로버입니다. TSK UF200AL은 샘플 프로브 및 스위칭 작업, 레이저 자동 정렬을 갖춘 빠른 테스트 장비를 갖추고 있습니다. 또한 설치 및 데이터 취득 기능도 갖추고 있습니다. ACCRETECH UF 200 AL은 단일 접촉 및 글로벌 접촉 저항 측정 (최대 8 개의 프로브) 을 모두 지원합니다. 또한 0.3õm 파인 피치 본드 패드에 사용되는 것과 같은 최대 8 개의 다른 샘플 처리 응용 프로그램을 처리 할 수있는 멀티 응용 프로그램 (multi-applicator) 개념을 제공합니다. UF 200 AL 기능과 함께 사용되는 Probe 카드는 진동의 영향을 줄이기 위해 내장 충격 흡수 장치를 사용합니다. ACCRETECH/TSK UF 200 AL의 스캔 현미경은 파형 캡처 데이터 수집 기능을 통해 최대 500 나노미터의 측정 정확도를 제공합니다. 현미경은 또한 배선 구조 점 2äm 이하를 구별 할 수 있습니다. 진동 감쇠 프로브 (vibration dampening probe) 와 함께 프로버의 우수한 이동 정확도는 시간이 지남에 따라 안정적인 측정을 보장합니다. ACCRETECH UF 200AL의 자동 측정 시스템은 데이터 플럭스 (dataflux) 및 데이터베이스 분석 장치 (database analysis unit) 를 기반으로 하며, 동일한 측정 카트리지에서 다양한 전도 경로를 측정하는 데 사용됩니다. 매우 자동화되어 있으며 반복성과 정확성을 보장합니다. 통합 데이터베이스는 각 테스트 포인트에 대한 측정 매개 변수를 저장합니다. 이 측정 매개 변수는 테스트 (per-test) 항목 고정도 (per-test item fixture accurity) 에 사용되며 여러 테스트를 통해 조정됩니다. 또한, 데이터베이스는 테스트 결과를 저장하고 사용자가 결과를 검토할 수 있도록 합니다. ACCRETECH UF200AL은 또한 레이저 자동 정렬 기계를 갖추고 있으며, 이 기계는 반복성과 테스트 정확성을 보장합니다. 이 제품에는 CPU 도구와 테스트된 자료의 고해상도 이미지를 제공하는 대형 LCD 디스플레이가 함께 제공됩니다. Prober는 네트워크 연결 (Network Connection) 을 통해 사용자가 자산의 데이터에 액세스할 수 있으며, 이를 통해 데이터를 실시간으로 비교하고 검토할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF200AL 프로버 (Prober) 는 다양한 접촉 저항 테스트에 이상적인 솔루션으로, 가장 작은 접촉 저항도 포함하는 테스트에 뛰어난 정확성과 반복 성을 제공합니다. 다중응용기 (Multi-Applicator) 컨셉 및 데이터베이스 분석 모델로, 고차원 재료의 접촉 테스트에 매우 적합합니다. '견고한 설계' 와 '쉬운 운영' 을 통해 다양한 조건에서 제품을 테스트하고 실시간으로 결과를 분석할 수 있습니다.