판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200A #9283902

ACCRETECH/TSK UF 200A는 전자 부품 및 회로 테스트의 정확성과 효율성을 향상시키기 위해 특별히 설계된 전문가입니다. 테스트 프로세스의 정확성을 높이는 다양한 첨단 기술 기능 (Advanced Technological Features) 과 컴포넌트 (Component) 를 활용하여 이를 입증합니다. 프로버는 고해상도 광학 인코더가있는 스프링 프로빙 헤드와 0.1 미크론 해상도의 X, Y, Z 폐쇄 루프 동작 시스템으로 구성된 매우 정확한 위치 시스템을 가지고 있습니다. 이 포지셔너는 0.001mm의 정확도 내에서 단일 컨택트 포인트 (Contact Point) 또는 프로브 (Probe) 사이트를 찾아 찾을 수 있습니다. 이 정확성으로, TSK UF200A는 가장 높은 요구 사항과 복잡한 테스트 시나리오에 적합합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 프로브의 접촉력을 측정하기 위해 0.02 ~ 20N 범위의 핸드 헬드 힘 모니터를 갖추고 있습니다. 이 정확한 변형은 미세 피치 커넥터 테스트 (fine pitch connectors testing) 또는 하이 핀 카운트 장치 프로브 (high pin count devices probing) 를 포함한 다양한 응용 프로그램을 최적화 할 수 있기 때문에 고출력 프로브 결과에 중요합니다. Prober는 Contact Resistance, Capacitance 및 Current Measuration과 같은 광범위한 테스트 기능을 제공합니다. 또한 최대 1.27mm의 대각선 피치로 고밀도 프로브를 수행 할 수 있습니다. 이를 통해 반도체, ferrite 장치, MCM (Multi Chip Module), 옵토 전자 부품 및 표면 실장 장치 등 다양한 부품을 테스트할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF 200 A에는 상호 전도 테스트 및 단일 엔드 크로스 토크 억제 (single-end cross-talk suppression) 와 같은 다양한 고급 측정 기술이 장착되어 있습니다. 또한 프로브 포인트를 더 잘 검사하기위한 광학 현미경 포트가 있습니다. 또한 AVA (Automated Vision Alignment) 기능을 사용하여 접점을 기준으로 프로브를 자동으로 정렬할 수 있습니다. 이 기능을 사용하면 위치 정밀도에서 0.1 ° 또는 0.1mm보다 훨씬 잘 반복 위치 정렬이 가능합니다. 성능 측면에서 볼 때, UF200A 는 고성능 WIN-CE 운영 체제에서 지원하는 매우 빠르고 효율적으로 작업을 완료할 수 있습니다. 또한 테스트 결과의 데이터 전송을위한 고속 통신 인터페이스가 있습니다. 전체적으로, TSK UF 200 A는 매우 정확한 전문가이며, 이는 전자 부품 및 회로를 테스트하는 데 매우 효과적입니다. 다양한 고급 구성요소 (advanced component) 와 기능을 활용하여 가장 까다로운 요구 사항과 애플리케이션에 적합합니다.