판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200A #9283853

ACCRETECH/TSK UF 200A는 TSK와 Tokyo Seimitsu Kikai Co. Ltd. 이 프로버는 웨이퍼 레벨 반도체 장치 표면에 대한 정확하고 반복 가능한 측정을 제공하도록 설계되었습니다. UF 시리즈 프로버 (Prober) 는 자동 초점 기능을 특징으로하며 기판에서 다양한 전기, 기계 및 광학 특성을 만들도록 설계되었습니다. 물리적으로 TSK UF200A는 이동식 테이블 및 암 어셈블리, 관절 암 (articulated arm), 시각 검사 카메라 및 프로브 홀더와 같은 조작기로 구성됩니다. 표와 암 (table and arm) 어셈블리를 조정하여 기판에 필요한 프로브 위치 (arm) 에 장착된 프로브를 정렬할 수 있습니다. 수동 또는 자동 메커니즘을 사용하여 프로브를 배치할 수도 있습니다. 관절 암 (articulated arm) 은 프로브를 기판쪽으로 향하고 필요에 따라 위치를 조정하는 데 사용됩니다. 관절 암 (articulated arm) 은 또한 프로브가 기판과 직접 접촉하도록 조정 될 수있다. ACCRETECH UF 200A는 전류, 전압, 정전기, 저항 및 누출 전류와 같은 다양한 전기 측정을 할 수 있습니다. UF200A는 또한 단일 접촉, 이중 접촉, 4 개의 접촉 및 다중 접촉 프로브와 같은 4 가지 프로브 유형에 대한 통합 테스트를 제공합니다. 통합 테스트 기능을 통해 동일한 기판에서 4 개의 다른 온도를 동시에 측정 할 수 있습니다. 시각적 검사 기능으로 볼 때, ACCRETECH/TSK UF 200 A에는 고해상도 CCD 카메라와 기판 외부와 내부를 모두 볼 수 있는 현장 모니터 (옵션) 가 장착되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 소재 결함 (material defects) 과 장치의 구조적 약점을 쉽게 해결할 수 있습니다. UF 200 A에는 다양한 측정 포트가 있어 온도 컨트롤러 (temperature controller), 외부 앰프 (external amplifier) 와 같은 수많은 외부 장치를 연결할 수 있습니다. 이러한 방식으로 ACCRETECH UF200A는 기존 자동 웨이퍼 테스트 장비와 쉽게 통합 될 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF 200A에는 Probe 시퀀스, 속도 설정, 핀, 기타 필요한 정보를 저장하는 정교한 전자 제어 시스템이 장착되어 있습니다. 이 단위를 사용하면 데이터의 보기, 해석 및 분석이 향상됩니다. 결론적으로, TSK UF 200A는 웨이퍼 레벨 반도체 장치 표면의 정확하고 반복 가능한 측정을 제공하도록 설계된 고급 전문가입니다. 통합 테스트 기능, 시각적 검사 기능, 종합적인 전자 제어 장치 (Electronic Control Machine) 의 조합으로, 자동 웨이퍼 테스트 시스템과의 통합에 이상적입니다.