판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200A #9268885

ACCRETECH/TSK UF 200A는 다양한 유형의 반도체 장치를 조사하고 샘플링하도록 설계된 대기 스캐닝 프로버입니다. 이 검사는 발자국이 12 "x 12" 에 불과하고 무게가 6.5 파운드 미만인 다재다능한 도구로, 소형 폼 팩터가 유익한 어플리케이션에 적합합니다. TSK UF200A는 웨이퍼 정렬, 패드 중심 및 임계 치수 프로브에 대한 측정 정확도를 제공합니다. 이것은 포인트 클라우드 서보 모터 제어 시스템 (point cloud servo-motor control system) 과 전문 트랜스듀서 (transducer) 를 사용하여 달성됩니다. 포인트 클라우드 (point cloud) 는 접촉 측정을 위해 웨이퍼에 정확한 좌표를 정확하게 보간하고 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 에 대한 수직 위치를 정확하게 제어합니다. 이로 인해 높은 정밀도와 낮은 접촉력 (contact force for probing) 이 발생합니다. ACCRETECH UF 200 A에는 2 개의 프로빙 레벨이 있습니다. 첫 번째 레벨은 접촉 패드의 측정 및 샘플링에 사용할 수 있으며, 두 번째 레벨은 정렬 및 접촉 스캔을 수행 할 수 있습니다. 이렇게 하면 컨택트 패드 (contact pad) 외부에 있는 영역을 포함하여 전체 장치를 조사할 수 있습니다. 또한, UF 200A는 ST950 및 E-LPS와 같은 TSK Probe Card 액세서리와 함께 사용하도록 설계되어 향상된 속도, 낮은 접촉력으로 빠른 스캔 측정을 제공합니다. E-LPS는 0.1mm, 0.2mm, 0.4mm의 선택 가능한 스팟 크기를 제공하여 고속 스캔 및 측정을 위해 최대 96 개의 웨이퍼 사이트를 저장 및 전송할 수 있습니다. TSK UF 200 A 는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 갖추고 있어 사용하기 쉽고, 사용자에게 짧은 학습 곡선을 제공합니다. 또한 데이터 업로드 (Data Upload), 관리 (Management), 처리 (Processing) 기능을 통해 인터넷에 접속하여 Probe 작업을 원격 모니터링하고 제어할 수 있습니다. 또한 이 기능을 통해 운영자는 실시간으로 Probe 데이터를 액세스하고 분석 할 수 있습니다. UF 200 A 프로버 (Prober) 는 매우 정확하고, 풍부하며, 비용 효율적인 도구를 갖춘 반도체 장치의 샘플링 및 검사가 필요한 어플리케이션에 적합합니다. 소형 폼 팩터 (form factor), 포인트 클라우드 서보 모터 제어 시스템 (point cloud servo-motor control system), 원격 액세스 기능이 결합된 다목적 특성은 모두 안정적이고 사용하기 편리하며 경제적인 솔루션을 원하는 사용자에게 유용합니다.