판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200A/AL #293642604

ID: 293642604
빈티지: 2007
Prober 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200A/AL은 다양한 매개변수에 대한 반도체 다이, 베어 다이 및 활성 SOIC (Small Outline Integrated Circuit) 칩과 같은 집적 회로 패키지를 테스트하도록 설계된 고급 전문가입니다. 높은 정확도로 여러 출력을 테스트 할 수있는 올인원 (All-in-one) 장비다. 이 시스템은 수직 및 수평 선형성, 회로의 전기 특성 (예: asrise 및 fall time, 커패시턴스 및 인덕턴스) 및 솔더 관절 결함을 측정 할 수 있습니다. 이 프로버는 320mm x200mm 플래튼, 가이드 스테이지 및 양방향 정렬 단계를 포함하는 소형 유닛입니다. 안내 단계 (guided stage) 는 부드럽고 정밀한 작동을 제공하도록 설계되었으며 원하는 모양을 형성하도록 조정할 수 있습니다. 양방향 정렬 단계 (bi-directional alignment stage) 에는 지상 판의 대상 칩을 정확하게 추적하고 샘플의 빠른 정렬을 용이하게 하는 레이저 (laser) 가 장착되어 있습니다. 또한 TSK UF200A/AL에는 다양한 센서가 장착되어 있어 데이터를 정확하게 수집할 수 있습니다. 여기에는 다양한 광검출기, 레이저 다이오드 및 샘플의 전기 특성을 측정하는 커패시턴스 게이지 (capacitance gage) 가 포함됩니다. 그런 다음, 분석 및 후속 의사 결정을 위해 데이터를 기계로 보냅니다. 또한 Prober에는 Testing Parameter를 특정 요구 사항에 맞게 사용자 정의할 수 있는 통합 소프트웨어 인터페이스 (Integrated Software Interface) 가 있습니다. 또한, 다른 시스템과 통합하여 테스트 프로세스를 자동화하여 빠르고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다 (영문). ACCRETECH UF 200AAL Prober는 다른 유사한 시스템에 비해 수많은 장점을 제공하여 반도체 산업의 다양한 응용 분야에 적합한 제품입니다. 그 정확성과 신뢰성은 모든 유형의 반도체 장치를 테스트하는 데 이상적인 도구입니다. 또한 컴팩트한 디자인과 통합 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 를 통해 다양한 시나리오에서 손쉽게 작동, 다용도로 사용할 수 있습니다. 자산은 마이크로 일렉트로닉스 제조 (microelectronics manufacturing) 에서 반도체 테스트 및 검증에 이르기까지 다양한 응용 분야를 갖추고 있습니다. 마지막으로, 비용 효율성은 상업 및 연구 센터 모두에게 매력적인 옵션입니다.
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