판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 2000 #9251564
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판매
ID: 9251564
빈티지: 2011
Prober, 5"-8"
ARTS-HS Thermal unit included
Temperature range: -40°C to +150°C
Main control system: Pentium 4, 2.0 GHz (P/N: 293100)
Hard Disk Drive (HDD): 40GB
Operating system: VxWorks (P/N: 247853)
UF2000 O/S Rev: S5.13.08 or higher
Magneto optical disk drive / USB (P/N: 247850)
Head stage for NEXTEST Magnum / TERADYNE J750 Adapter ring
(25) First and second cassette loader wafers (5"-8" Wafers)
Includes with PC unit :
COGNEX 8500 Vision system
Align and PMI
Manual wafer inspection transfer unit
Dual robotic wafer transport arms
Pre-alignment stage unit
Capacitive non-contact displacement sensor (P/N: 293311)
Advanced wafer alignment unit
Dual moire scales (X and Y)
High rigidity Z stage
Color LCD control panel with touch panel switches (P/N: 248900)
Alarm lamp pole (P/N: 247820)
Nickel plated cold chuck, 8" (P/N: 249015)
ARTS-HS Chiller unit (ACCRETECH Rapid Thermal System High Speed)
Wafer ID recognition option: Type 6 OCR
Needle cleaning option (Block type: 100 mm x 200 mm and brush)
Probe mark inspection option
Multi site parallel probing option (128 DUT)
GP-IB Interface option: Standard ACCRETECH command
Light VEGA network management option for product recipe management (Ethernet interface included)
Compliance S2-93
Smart PMI Option
Remote terminal option: Full remote control
System level change log option
Automatic PC changer
2011 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000은 다양한 재료 및 반도체 기반 제품을 테스트하고 특성화하기 위해 특별히 설계된 전문가입니다. 초고정밀도 테스트 및 측정 장비로, 속도와 정확도로 극도로 작은 마이크론 (sub-micron) 수준의 스레드를 캡처할 수 있습니다. 스텝퍼 (stepper), 롱 스트로크 선형 프로파일링 (long-stroke linear profiling), 고해상도 접촉 스타일 프로파일로미터 (high-resolution contact-style profilometer) 와 같은 다양한 고유 한 도구를 포함하는 완전 자동 테스트 환경이 있습니다. TSK UF 2000 Prober는 특허를 획득한 자동화된 탭 로드 시스템으로 인라인 (inline) 또는 다중 샘플을 수행하고 변경 사항을 빠르고 정확하게 로드합니다. 또한 이중 색상 시각 장치 (Dual Color Vision Unit) 가 있어 출력 정렬 및 0점 보정에 사용되므로 보다 정확하고 빠른 테스트가 가능합니다. 이 프로버는 또한 충격 내성 자동화, 방진 주택 및 밀봉 된 입자 분리 기를 특징으로합니다. 밀봉된 입자 분리 장치 (isolator) 는 오염 물질이 테스트 환경에 들어가서 결과에 영향을 미치는 것을 방지합니다. ACCRETECH UF2000 Prober는 최소 운영자 개입으로 작동하도록 설계되었습니다. 자동 웨이퍼 로딩 장치, 선택적 웨이퍼 매핑 도구, 선택적 테스트 시간 최소 (test time minimum) 기능이 있습니다. wafer mapping asset (옵션) 을 사용하면 PC 또는 태블릿의 단일 명령으로 전체 웨이퍼를 매핑할 수 있습니다. 최소 테스트 시간 (test time minimum) 기능 (옵션) 을 사용하면 각 샘플에 대한 최소 테스트 시간을 지정하여 테스트 시간을 줄일 수 있습니다. UF 2000 Prober는 미세 피치 프로브, 고급 웨이퍼 라우팅, 3D 표면 프로파일링, 다이 모델 측정 및 4 루프 스캔을 포함한 다양한 측정 기능을 제공합니다. 또한 스트로브 라이트 (strobe light), 온도 컨트롤러 (temperature controller) 및 기타 측정 기기와 같은 장치와 상호 작용할 수 있습니다. 견고한 알루미늄 (aluminum) 과 강철 프레임 (steel frame) 을 사용하여 모델이 내구성과 안정성을 보장합니다. ACCRETECH UF 2000 Prober는 비전 시스템, 자동차 부품, 반도체 부품 및 기타 재료를 테스트하고 특성화하는 데 이상적입니다. 첨단 자동화 (Advanced Automation) 와 정확성 (Accurity) 을 통해 다양한 업계의 부품 성능을 검토하고 예측하는 데 필수적인 툴이 됩니다. 고도로 신뢰할 수 있는 장비로, 예제의 성능을 분석하기 위해 세부적인 정보를 정확하고 신속하게 캡처할 수 있습니다 (영문).
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