판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 2000 #9234262

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제조사
ACCRETECH / TSK
모델
UF 2000
ID: 9234262
빈티지: 2011
Prober Docked: ST6730A Probe card: Auto card changer Manipulator: HF: MHF4000S Chuck stage: Chuck: Ni Temperature: Hot chuck Temperature range: 30° C ~ 150° C Needle cleaning: Cleaning unit Size: 200 x 100 Tester I/F: GPIB CPU Type: 7509 Ethernet OCR Board configuration: Slot / Board 1 / VME7509 Master CPU 4 / TTL/GP-IB 6 / MR-MC01-S101 SSC NET 7 / DAKT-04 2011 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000 Prober는 전자 부품 제조에 사용되는 반도체 테스트 장비입니다. 저항, 커패시턴스, 인덕턴스, 전압 등 개별 컴포넌트의 특성을 측정하는 데 사용됩니다. 이 정보는 품질 제품을 보장하고 운영 효율성을 최적화하는 데 사용됩니다. TSK UF 2000 은 하나의 테스트 주기로 여러 디바이스를 테스트할 수 있는 완전 자동화 (fully automated) 시스템입니다. 이 장치에는 검사 영역, 프로브 스테이션, SMU 및 PC가 포함됩니다. 검사 영역 (Inspection Area) 을 사용하면 웨이퍼가 프로브 스테이션으로 이동하기 전에 웨이퍼를 검사하는 프로세스가 가능합니다. Probe 스테이션은 장치의 전기 특성을 테스트하는 데 사용됩니다. 고품질 프로브 (Probe) 카드는 압력에 민감한 접촉부가 포함되어 있어 반도체 장치의 속성을 빠르고 정확하게 식별 할 수 있습니다. SMU (Source Measurement Unit) 는 디바이스의 전력 소비량, 전류, 누수 및 기타 매개변수를 측정하는 데 사용됩니다. 개인용 컴퓨터는 SMU (중소, 중견, 성장 기업) 에서 획득한 측정 데이터를 저장하고 상세한 보고서와 차트를 생성하는 데 사용된다. ACCRETECH UF2000은 안정적이고 견고한 테스트 머신입니다. 기기의 전기 성능에서 가장 작은 이상 (anomaly) 조차 빨리 감지 할 수 있습니다. 이는 제품 수율과 품질을 향상시키는 데 도움이됩니다. 이 도구는 온도 사이클링 (tempering cycling) 및 열 내구성 테스트 (heat durability test) 와 같은 제조 후 테스트에도 사용할 수 있습니다. 또한 상세한 횡단면 분석 (cross-sectional analysis) 을 수행하여 시간 경과에 따라 디바이스의 잠재적 문제를 식별할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF 2000 Prober도 사용자 친화적입니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 테스트 설치 프로세스를 간소화하고 테스트 레시피를 쉽게 설정, 저장할 수 있습니다. 또한 다양한 로깅 (logging) 옵션을 통해 사용자가 디바이스의 이상 동작을 추적할 수 있습니다. 또한 고급 시각적 리포트 (Visual Report) 와 진단 도구 (Diagnostic Tools) 를 통해 사용자가 디바이스의 동작을 더 잘 이해할 수 있습니다. 전체적으로, TSK UF2000 Prober는 안정적이고 효율적인 테스트 자산으로, 개별 구성 요소의 전기 특성에 대한 정확하고 상세한 데이터를 제공합니다. 사용자 친화적이며, 제품 수율과 품질을 향상시키는 데 도움이 될 수 있습니다.
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