판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 2000 #293673380

ACCRETECH/TSK UF 2000은 반도체 샘플과 같은 작은 움직이는 물체의 특성을 검사하고 분석하기위한 높은 정밀 측정을 위해 설계된 전문가입니다. 조정 가능한 모듈식 시스템으로, 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. Prober는 상판, 스테이지 및 기본 단위로 구성됩니다. 상판은 측정 장치를 포함하는 주요 플랫폼입니다. 안정적이고 진동이없는 기본 장치 (base unit) 에 장착되어 정확하고 반복 가능한 측정이 가능합니다. 샘플은 위쪽 판에 배치되며, 이는 XY 평면과 Z축 방향으로 이동할 수 있습니다. 수직 및 높이 센서는 정확한 측정이 가능하도록 합니다. 프로버에는 검사 중인 반도체 샘플의 크기를 측정하기위한 고정밀 스캐너 (high-precision scanner) 가 장착되어 있습니다. 스캐너에는 미세 해상도가 있으며 LSO (Local Scan Override) (로컬 스캔 오버라이드 (Local Scan Override)) 가 포함되어 있어 스캐닝 속도를 샘플의 움직임에 맞게 조정할 수 있습니다. 이를 통해 샘플이 원하는 영역에 한정되고 샘플 (sample) 영역의 전체 적용 범위를 달성할 수 있습니다. 또한, 입자를 1 m 작게 포착 할 수있는 고정밀 입자 카운터가 포함되어 있습니다. "레이저 '" 다이오드' 배열 의 도움 으로 추적 된 "샘플 '에서 입자 를 탐지 할 수 있다. 이 입자 카운터는 입자 크기, 분포, 이미지와 같은 입자 측정 형태의 정확한 결과를 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 샘플의 정확한 열 특성을 측정 할 수있는 매우 민감한 열 특성 (thermal properties) 측정 장치를 갖추고 있습니다. 여기에는 샘플의 자체 열 특성을 정확하고 반복 할 수있는 열전 프로브 (thermoelectric probe) 가 포함됩니다. TSK UF 2000은 광범위한 측정 및 분석에 이상적인 전문가입니다. 신뢰성 이 있고, 정확하며, 사용 하기 쉽기 때문 에, 조그마 한 움직이는 물체 의 세부적 인 검사 와 분석 을 하기 에 충분 한 선택 을 할 수 있다.