판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9411411

ACCRETECH/TSK UF 200 Prober는 고핀 수 (High-Pin Count), 직접 연결 (Direct Attach) 및 BGA 패키지를 포함한 광범위한 장치를 조사하고 테스트하기 위해 설계된 안정적이고 고급 테스트 및 평가 장비입니다. 이 Prober는 모듈식 (Modular) 설계와 고급 고속 (High-Speed) 자동화 기능을 제공하여 기존의 모든 제조/테스트 라인에 쉽게 통합할 수 있습니다. 이 시스템에는 다기능 핸들링 헤드 (Handling Head) 장치가 장착되어 있어 프로브 (Probe) 와 기타 테스트 장비를 빠르고 편리하게 장착할 수 있습니다. 헤드 유닛에는 DC 및 AC 레이저 포지셔너 장치 (positioner unit) 가 장착되어 있어 프로브 (probe) 와 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 바늘의 정확한 위치와 정렬이 가능하므로 정확한 테스트 및 평가가 가능합니다. 프로버는 또한 강력한 X-YLlinear 포지셔닝 머신을 갖추고 있으며, 헤드 유닛은 웨이퍼 전체 영역에 걸쳐 X, Y 및 Z 방향으로 프로브를 정확하게 배치 할 수 있습니다. TSK UF 200 에는 웨이퍼를 검사하는 고성능 비전 툴 (vision tool) 도 함께 제공되며, 신호 처리 및 분석을 위한 실시간 신호 프로세서 (real-time signal processor) 가 장착되어 있습니다. 자산은 직접 웨이퍼 조사 (direct wafer probing), 표면 분석 (surface analysis), 전기 고장 분석 (electrical failure analysis) 등 다양한 유형의 테스트를 수행 할 수 있습니다. 대용량 메모리를 사용하면 나중에 참조할 수 있도록 테스트 결과를 저장할 수 있습니다. ACCRETECH UF200 은 매우 정밀한 테스트 영역 (test area) 과 넓은 샘플 로드 영역 (loading area) 을 갖추고 있어 다양한 테스트 객체와 구성을 수용할 수 있습니다. 이 Prober는 또한 유연한 테스트 자동화 (Flexible Test Automation) 기능을 통해 사용자가 특정 제품 및 테스트 요구 사항에 따라 테스트 시퀀스를 사용자 정의할 수 있습니다. 전반적으로 UF 200 Prober는 경제적이고, 안정적이며, 고도의 Wafer Prober 모델로, 사용자의 효율적인 테스트 및 평가 기능을 제공합니다. 직관적인 제어 장비와 강력한 기능으로, 이 시스템은 다양한 어플리케이션의 까다로운 요구 사항을 충족시키기에 적합합니다 (영문).