판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9364588
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판매
ID: 9364588
Prober
Main body parts:
Chuck top
Z-Unit
XY Axis screw and motor
F-Axis screw
E1, E2 Camera module
Joystick
Touch panel
Keyboard and joystick
Keyboard control board
Alarm lamp pole
Control rack:
Z-Axis driver
XY Servo drivers
Power control board
Video interface board
Power supply: (2) 24 V, 12 V, -12 V, 5 V, 48 V
VME Rack:
Slot / Board
Slot 1 / Master CPU
Slot 4 / VGA Card
Slot 5 / VGA Card
Slot 6 / COGNEX Board
Slot 8 / PIO Board
Slot 10 / GPIB Board
Slot 11 / 5-Channel PGEN board
Slot 14 / DISP Sensor
Slot 16 / Slave CPU
Slot 17 / Loader I/O
Slot 18 / Loader PGEN
Floppy Disk Drive (FDD)
Hard Disk Drive (HDD)
Main body read side:
Driver board
F-Server driver
Theta server driver
(2) Fans
Moire divider board
Loader side:
Loader driver board
OCR Camera
Loader sensor board
Loader axis board
Cassette cover
Elevator motor driver
Sub-chuck rotation motor driver
Turntable motor driver
(2) Transfer motor driver arms
Sub-chuck
Pre-alignment sensor
(2) Arms
Inspection tray
Temperature controller
Elevator / Clamper
Docking hinge, 400L
Miscellaneous:
Free stopper (Cassette cover)
Valve
Tie rod for loader / Main body.
ACCRETECH/TSK UF 200은 반도체 장치 및 회로 보드의 전기, 광학 및 고장 분석을 위해 설계된 범용 전문가입니다. 이 검사는 전기 연결 검사 및 테스트, 열적/기계적 차이 테스트, 자동/수동 광/고장 분석 (optical/failure) 에 사용됩니다. TSK UF 200은 다양한 기능을 통해 유연성과 높은 수준의 정확성, 재현성을 제공합니다. 이 프로버의 주요 특징은 고정밀 인덱서 (high-precision indexer) 로, X-Y-Z 축을 정확하게 제어하고 프로브의 미세한 위치를 제공 할 수 있습니다. 또한 높은 수준의 반복성 (repeatability) 을 제공하므로 테스트 반복에도 일관된 테스트 결과가 생성됩니다. 이 Prober는 테스트 결과를 진단 정보 (Diagnostic Information) 로 변환하여 사용자에게 강력한 분석/해석 도구를 제공합니다. ACCRETECH UF200은 서브 미크론 장치 또는 회로 보드를 평가하고 세밀하게 조정하는 데 적합합니다. 인덕턴스, 커패시턴스, 열 특성 및 기타 고주파 신호를 측정합니다. 사용자 인터페이스 (User Interface) 를 사용하면 자동화 시퀀스를 프로그래밍하고 편집할 수 있으며 테스트 결과를 그래픽 또는 텍스트 형식으로 표시할 수 있습니다. 이 검사는 또한 빠른 속도로 큰 핀 밀도를 테스트 할 수 있습니다. 또한, UF 200은 가장 작고 복잡한 장치조차도 처리하기 위해 다수의 유닛 (unit) 과 광범위한 척 (chuck) 및 프로브 (probe) 크기를 제공합니다. 또한 고품질 이미지와 결과를 제공하므로 특정 테스트 포인트를 자세히 분석하고 캡처할 수 있습니다 (영문). TSK UF200 은 안정적이고 강력한 전문가로서, 복잡한 회로 및 소규모 디바이스 테스트와 같은 애플리케이션에 적합합니다. 기존 방식보다 짧은 시간 (time-span) 으로 반복 가능하고 정확한 결과를 제공할 수 있어 전자부품 (electronic component) 을 신속하고 안정적으로 분석할 수 있는 효과적인 솔루션입니다.
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