판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9363115

ACCRETECH/TSK UF 200은 다양한 반도체 장치를 정확하게 테스트하고 조사하도록 설계된 고정밀 전문가입니다. IC, FPD 및 기타 전자 장치 (예: SOT, CSP 및 SOIC) 와 작동하도록 설계되었습니다. 동작 제어 정확도 0.01 µm 및 위치 정확도 1 µm의 닫힌 루프 위치 제어 장비가 특징입니다. 프로버의 스테이지는 150mm x 150mm의 X-Y 이동과 25mm의 Z 이동을 갖습니다. 25 ~ 635mm의 기판을 처리 할 수 있으며 내장 IC의 경우 최대 75mm × 75mm, 평면 패널 디스플레이의 경우 최대 300mm × 300mm의 기판 크기를 지원합니다. 또한, 프로버는 웨이퍼 레벨 테스트를 위해 직경이 최대 500mm 인 기판을 지원할 수 있습니다. 이 프로버에는 PC 및 PC 카드 제어가 장착 된 16 채널 Prober 시스템 컨트롤러가 포함되어 있습니다. 따라서 이 장치는 수동 테스트와 자동 테스트를 모두 제공할 수 있습니다. 또한 프로브 헤드 (Probe Head) 설계를 통해 빠르고 쉽게 프로브를 교환하여 다운타임을 줄일 수 있습니다. 이더넷, USB, RS-232 및 디지털 I/O 포트를 포함한 다양한 인터페이스가 장착되어 있습니다. 프로버의 최대 속도는 150mm/sec이며, 해결 시간은 200ms이며, 전기 기계 피드백입니다. 또한 자동 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 가 가능하며 조절 가능한 스프링 힘으로 높은 정밀도를 제공합니다. TSK UF 200 Prober는 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가있는 고급 Windows 운영 체제를 갖추고 있습니다. GUI 는 툴을 간편하게 제어, 모니터링할 수 있으며, 자동화된 Probing, 프로그래밍 가능한 테스트 레시피 (Programmable Test Recipe), 프로세스 제어 (Process Control), 분석 (Analysis) 등의 다양한 기능에 액세스할 수 있습니다. 결론적으로, ACCRETECH UF200 prober는 다양한 반도체 장치를 테스트하고 조사 할 수있는 고정밀 전문가입니다. 여기에는 PC 및 PC 카드 제어가 장착 된 16 채널 Prober 자산 컨트롤러와 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가있는 고급 Windows 운영 모델이 포함됩니다. 장비에는 동작 제어 정확도 0.01 µm, 위치 정확도 1 µm 인 폐쇄 루프 위치 제어 시스템 (closed-loop position control system) 이 포함되며, 최대 속도는 150mm/sec이며, 정산 시간은 200ms이며 전기 기계 피드백입니다. 프로브는 IC, FPD 및 기타 전자 장치에 적합하며 내장 IC의 경우 최대 75mm × 75mm, 평면 패널 디스플레이의 경우 최대 300mm × 300mm의 기판을 지원합니다.