판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283877

ACCRETECH/TSK UF 200 Prober는 엔지니어가 아직 생산 과정에 있는 동안 IC (Quality of Integrated Circuit) 를 평가하도록 설계된 반도체 검사 및 테스트 기계입니다. 소형 패스 (small pass) 와 장치 (device) 의 전기적 특성을 측정하기 위해 다양한 첨단 기술을 사용하는 고정밀 자동화된 장비다. 시스템은 한 번에 최대 200개의 웨이퍼를 테스트하고 모니터링하도록 구성할 수 있으며, 처리율은 분당 최대 20개의 웨이퍼 (wafer) 입니다. 즉, 운영자가 수동으로 웨이퍼를 이동하거나 변경할 필요가 없이, 쉽고 효율적으로 테스트할 수 있습니다. TSK UF 200 Prober는 테스트가 빠르고 정확하도록 설계된 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 이 장치는 각각 500mm x 500mm 프로브 창과 최대 4.5mm의 스캔 영역이있는 2 개의 독립적 인 프로브 스테이션을 사용합니다. 각 스테이션에는 자체 고해상도 카메라가 있어 테스트 중 프로브 (Probe) 와 검사 (Inspection) 를 정확하게 포지셔닝할 수 있습니다. 또한 자동 접촉 알고리즘 (프로브 접촉 (Probe Contact) 및 웨이퍼 서피스 접촉 (Wafer Surface Contact) 에 대한 정확한 설정이 포함되어 정확하고 정확한 테스트를 보장합니다. 또한 기계는 Ohmic, MOSFET 및 EMMT (Electron Mobility Measurement) 를 포함하여 다양한 장치에 대해 다양한 설정을 사용합니다. 이것은 매번 정확하고 정확한 테스트를 보장합니다. ACCRETECH UF200 Prober에는 테스트 및 검사를 최적화하도록 설계된 다양한 추가 기능도 있습니다. 회전 (rotation) 및 진동 (vbration) 메커니즘을 포함한 여러 옵션 액세서리가 있으며, 이는 웨이퍼 동작을 방지하여 안정적이고 일관된 테스트를 보장하는 데 도움이됩니다. 이 도구에는 컨투어 사전 정렬 (contour pre-alignment) 기능도 포함되어 있어 웨이퍼의 정확한 위치를 유지하여 정확한 테스트를 보장합니다. 또한 웨이퍼 결함 매핑 에셋 (wafer-defect mapping asset) 이 포함되어 있습니다. 이 에셋은 엔지니어가 검사되는 IC의 문제를 파악하고 파악하는 데 사용할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF200 Prober는 또한 여러 소프트웨어 기능을 통해 엔지니어의 테스트 프로세스를 지원합니다. 이 모델에는 다양한 통계 분석 도구 (Statistical Analysis Tools) 와 보고 옵션 (Reporting Option) 이 포함되어 있어 엔지니어가 테스트 프로세스를 심층적으로 살펴볼 수 있습니다. 이 장비에는 하드웨어 디버깅 시스템 (hardware debugging system) 이 포함되어 있어 엔지니어가 IC 의 잠재적 문제를 신속하고 정확하게 해결할 수 있습니다. 마지막으로, 원격 액세스를 지원하므로 엔지니어가 모든 위치에서 장치를 모니터링하고 제어할 수 있습니다. 전반적으로 UF 200 Prober는 생산 프로세스의 IC 테스트 및 검사를위한 다재다능하고, 효율적이며, 정확한 기계입니다. 이 제품은 다양한 기능을 통해 고도의 정밀도 (high-precision) 테스트와 검사를 원하는 엔지니어링 팀을 위한 탁월한 선택입니다. 높은 처리 속도와 정확성으로 인해 모든 환경 (연구 개발, 대량 생산) 에 적합한 선택이 가능합니다.