판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283859

제조사
ACCRETECH / TSK
모델
UF 200
ID: 9283859
빈티지: 2000
Prober Platform: T 5335P 2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200은 반도체 테스트 응용 프로그램을 위해 설계된 정확하고 고성능 전문가입니다. 반도체 (반도체) 소자와 집적회로 (집적회로) 테스트 등 각종 업종과 시장부문의 요구를 충족시키도록 설계됐다. TSK UF 200에는 정확한 웨이퍼 레벨 패키징 측정을위한 2 개의 Z 방향 단계가 장착되어 있습니다. Z 단계는 다이 표면의 측정하는 데 필요한 정확한 수직 변위 (vertical displacement) 를 100äm까지 제공하도록 구성 할 수 있습니다. 이 장비에는 정확한 샘플 위치 반복 성과 정확성을 제공하는 TSK 전동 XY 스테이지가 장착되어 있습니다. ACCRETECH UF200은 고성능 XYZ 스테이지와 정확한 샘플 처리를 보장하는 클램핑 시스템을 갖추고 있습니다. 이 장치는 X-Y-Z 방향 (최대 200mm) 에서 넓은 측정 범위를 제공하며 수동 조이스틱 또는 직관적 인 통합 터치패드 스타일 컨트롤로 제어 할 수 있습니다. 통합 조이스틱을 사용하면 Probe 헤드를 3 차원으로 보고 조작 할 수 있습니다. 온보드 소프트웨어 구성에는 CDM Probe 데이터 관리, PRMS Probe 자동 정렬 및 CDM-Touch 스캔 소프트웨어가 포함됩니다. UF200에는 검사 및 이미징을 위해 옵티컬 칼럼 및 카메라 머신이 장착되어 있습니다. 광학 도구는 넓은 시야를 자랑하는 고해상도, 색상 교정 이미징 기능을 제공합니다. 고급 이미징 에셋 (Advanced Imaging Asset) 은 항상 선명하고 선명한 이미지를 위한 자동/수동 초점 조정을 제공합니다. ACCRETECH UF 200 은 또한 통합 테스트 스탠드 (test stand) 를 통해 테스트 전에 샘플을 적절히 정렬하고 안전하게 보호할 수 있습니다. 또한 TSK UF200 은 광범위한 Probe 및 캔틸레버 (Cantilever) 구성을 지원하므로 다양한 재료 구성을 테스트하는 데 적합합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 고급 데이터 획득 모델을 갖추고 있으며, 접촉 조건, 정렬 및 조사 조건에 대한 정교한 분석을 제공하여 사용자가 정확하고, 안정적이며, 반복 가능한 데이터 결과를 얻을 수 있도록 도와줍니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF200은 다양한 반도체 장치 및 집적 회로 테스트 응용 프로그램에 적합한 고정밀 프로버입니다. 견고하고 직관적인 디자인이 특징이며 높은 정확성, 반복성, 신뢰성을 제공합니다.
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