판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283857

ACCRETECH/TSK UF 200은 광범위한 웨이퍼 테스트 요구를 충족하도록 특별히 설계된 Prober입니다. 직경 200mm ~ 300mm 사이의 모든 크기의 웨이퍼를 테스트 할 수 있으며 두께는 30mm에서 1mm 사이입니다. TSK UF 200에는 정확하고 반복 가능한 테스트 환경을 제공하는 풀 키네마 프로그래밍 가능 XY 테이블이 있습니다. 이 테이블에는 샘플 포지셔닝을 위한 수동 이동과 사전 프로그래밍된 패턴 테스트를 위한 자동 이동이 모두 있습니다. 샘플 스테이지는 최대 5 개의 샘플을 보유하도록 구성 할 수도 있습니다. ACCRETECH UF200에는 다양한 유형의 웨이퍼 테스트를위한 다양한 광학 프로브와 바늘이 있습니다. ACCRETECH UF 200에는 웨이퍼의 기능을 인식 할 수있는 다양한 기능 인식 알고리즘이 있습니다. 이러한 알고리즘에는 시각적 기능 인식, 이미지 이진 화, 모서리 감지, 윤곽선 분석 및 결함 탐지가 포함됩니다. 추가 분석을 위해 이미지를 내보낼 수도 있습니다. UF 200에는 측정 원, 고속 비디오 카메라, 후면 비디오 카메라 및 라이브 표면 거친 센서가 있습니다. 측정 원은 웨이퍼 (wafer) 표면의 패턴을 높은 정밀도로 측정 할 수 있습니다. 고속 카메라는 매우 빠른 속도로 웨이퍼 모션을 캡처 할 수 있으며, 표면 현미경 (surface microscopy) 에 사용할 수 있습니다. 후면 (rear view) 카메라는 웨이퍼의 정확한 모양을 측정하고 방향을 결정하는 데 사용됩니다. 라이브 표면 거칠기 센서는 웨이퍼의 표면 마무리에 실시간 피드백을 제공합니다. UF200 은 또한 "마이크로스코프 '에 연결 될 수 있는" 이미징 모듈' 을 가지고 있어서 더 큰 "샘플 '촬영 을 할 수 있다. 이미징 모듈은 SEM 이미지, 3D 이미지, X-ray 이미지 등과 같은 다양한 샘플 유형의 이미지를 캡처할 수 있습니다. TSK UF200은 USB 또는 이더넷을 통한 데이터 전송도 가능합니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF200 은 광범위한 웨이퍼 (wafer) 를 테스트하고 품질 제어를 위한 정확하고 반복 가능한 테스트 결과를 제공할 수 있는 다목적 전문가입니다. 그 특징은 반도체 업계의 사람들에게 귀중한 도구입니다.