판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283856

ACCRETECH/TSK UF 200은 패브리스 제조에서 IC 테스트 및 Wafer Level Burn-in을 위해 설계된 강력한 전문가입니다. 모듈식, 다목적 반도체 장치 테스트 및 프로브 시스템으로, 높은 정확도, 빠른 성능, 안정적인 작동이 가능합니다. TSK UF 200은 사용하기 쉬운 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 를 갖춘 고급 PC 기반 제어 시스템을 갖추고 있습니다. 최대 20 개의 사용자 정의 테스트 매개변수 및 자세한 데이터 분석 (테스트 결과 정렬, 자동 데이터 업로드 및 전송 포함) 을 제공합니다. 기본 GUI 에 통합된 데이터 분석 기능을 통해 테스트 설계, 사용자 정의 기능을 갖춘 ACCRETECH UF200 은 측면 (Lateral) 및 수직 (Vertical) 검사, 병렬 테스트 모두에 대한 우수한 테스트 성능을 보장합니다. UF 200 은 통합 자동화 프로세스 (Integrated Automation Process) 를 통해 여러 테스트 매개변수를 편리하고 정확하게 제어할 수 있으며, 실행 중에 매개변수를 신속하게 변경할 수 있습니다. 이를 통해 현재 테스트 조건이 가장 많이 사용되므로 테스트 결과를 안정적이고 일관성 있게 유지할 수 있습니다 (영문). ACCRETECH/TSK UF200은 장기적인 사용과 향상된 내구성을 위해 설계된 견고한 금속 프레임으로 제작되었습니다. 조절 가능한 크로스 오버 높이, 금속 피트, 크로스 오버 방지 보호, 작업 공간 영역 및 이동식 뚜껑은 안정성과 정확도를 더욱 높입니다. ACCRETECH UF 200은 운영 편의성, 포괄적인 테스트 기능, 정확성, 신뢰성 등 여러 가지 주요 이점을 제공합니다. 이 제품은 매우 까다로운 테스트를 수행하도록 설계되었으며, 가장 까다로운 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다 (영문). 광범위한 표준/특수 테스트 요구 사항을 테스트할 수 있는 TSK UF200 은 하이엔드 운영 라인 (Production Line) 테스트를 위한 최적의 선택입니다. 또한, "UF200 '은 두 개 의 독립" 프로' 로부터 여러 곳 을 동시 조사 할 수 있는 독특 한 이중 "샘플 '탐사계 를 갖추고 있다. 즉, ACCRETECH/TSK UF 200은 화상 처리 중에 쉽게 누락되거나 결함이 있다고 가정할 수 있는 문제 또는 장애를 빠르고 정확하게 감지 할 수 있습니다. TSK UF 200 은 대규모 IC 및 WLBI 테스트를 위한 완벽한 선택으로, 비용 대비 성능을 극대화합니다. 표준 패키지 크기나 특수 응용 프로그램에서 작업하든, ACCRETECH UF200 은 가장 까다로운 테스트 요구 사항을 충족하는 데 이상적인 솔루션입니다.