판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9260034

ACCRETECH/TSK UF 200은 반도체 산업의 요구를 충족시키기 위해 특별히 설계된 Prober 솔루션입니다. 완전하게 자동화된 웨이퍼 프로빙 시스템으로, 매우 정확한 측정 정확도, 빠른 프로빙 시간, 안정적인 테스트 성능을 제공합니다. TSK UF 200은 200mm-300mm 범위의 웨이퍼 크기를 처리 할 수 있으며, 프로세스 개발, 품질 관리 및 장애 분석을위한 고해상도 광학 현미경을 제공합니다. 매우 정확한 결과를 얻기 위해 동시에 최대 32 핀을 측정 할 수 있습니다. ACCRETECH UF200은 또한 다양한 유형의 웨이퍼를 지원하기 위해 여러 가지 프로브 기술을 제공합니다. 이러한 프로브 기술을 통해 웨이퍼의 물리적, 전기적, 화학적 특성을 미크론 스케일에서 수 밀리미터까지 측정 할 수 있습니다. 물리적 특성을 위해 UF 200에는 AFM (Atomic Force Microscopy) 및 SEM (Scanning Electron Microscopy) 기능이 있습니다. AFM 은 샘플의 토폴로지 및 매끄러움을 원자 척도까지 판별할 수 있으며, SEM 은 지표면 (surface) 및 지표면 (subsurface) 세부 사항의 고해상도 이미지를 제공합니다. 전기 저항과 같은 전기 특성은 FIB (Field Ion Microscope) 로 측정 할 수 있으며 ACCRETECH/TSK UF200은보다 강력한 전기 테스트를위한 CV 및 IV 기술도 지원합니다. 이러한 다양한 기술로 TSK UF200은 재조합 센터, Shockley-Read-Hall 매개 변수 및 인터페이스 상태 밀도를 측정 할 수 있습니다. 웨이퍼 표면에 존재하는 산화 상태 또는 화학 상태와 같은 화학적 특성은 ACCRETECH UF 200의 AES (Auger Electron Spectroscopy) 기능을 사용하여 측정 할 수 있습니다. AES 는 "웨이퍼 '가 조사 되고 있는 화학적 성분 을 이해 할 수 있게 해 주며, 따라서 공정 개발 과 실패 분석 면 에서 더 많은 이해 를 할 수 있게 해 준다. 전반적으로, UF200은 반도체 웨이퍼의 다양한 물리적, 전기적, 화학적 특성을 측정하기 위해 여러 기술이 적용된 고성능 웨이퍼 프로버 솔루션입니다. 이 제품은 강력하고, 완벽하게 자동화된 툴로서, 반도체 업계에서 안정적이고 정확한 측정 결과를 제공합니다.