판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9251034

TSK Corporation에서 제조한 ACCRETECH/TSK UF 200은 연구 및 개발 엔지니어 (R) 의 요구를 모두 충족하도록 설계된 고급 전문가입니다. 이 제품은 다양한 IC 및 장치를 테스트할 수 있는 고급 자동 웨이퍼 (automated wafer) prober 장비입니다. 고속, 높은 정확도 성능은 다양한 자동화 애플리케이션에 이상적인 선택입니다. TSK UF 200은 매개 변수를 쉽게 모니터링하기 위해 고해상도 OLED 디스플레이를 갖추고 있습니다. 높은 처리량, 4 축, 자동 웨이퍼 프로버 (automated wafer prober) 를 통해 다양한 입력 및 출력 유형을 테스트하고 테스트 정확도를 높일 수 있습니다. 시스템의 최대 X-Y 스캐너 범위는 200mm이고 Z축 깊이는 0.5 ~ 25mm입니다. 또한 데이터 수집 속도를 높여주는 완전 통합형 고속 데이터 전송 장치 (Fully Integrated, High Speed Data Transmission Unit) 도 포함되어 있습니다. ACCRETECH UF200은 메모리, 논리, 저전력 등 다양한 고급 테스트를 위한 Probe 카드를 지원합니다. 또한 전압 테스트, 제어 테스트, 장기 모니터링 등의 테스트 검사를 제공합니다. 이 프로버에는 업계 최고의 다이 투 다이 간격 테스트 기능도 있습니다. 기계는 또한 다양한 웨이퍼 처리 옵션을 제공합니다. 한 번에 최대 3 개의 웨이퍼 (wafer) 를 지원하며, 롤 (roll) 및 틸트 (tilt) 기능을 잘 제어하면 다른 부지에서 다른 매개변수를 처리 할 수 있습니다. 또한 자동 온도 조절 도구 (Automatic Temperature Control Tool) 를 사용하여 Wafer 온도가 미리 정해진 설정 지점에 유지되도록 합니다. UF 200은 또한 모든 유형의 웨이퍼에 적합한 고정밀 웨이퍼 정렬 에셋을 제공합니다. 정렬 오류를 0.01mm 이내로 감지 할 수 있습니다. 또한 고급 온라인 급지대 (Online Feeder) 정렬 기능으로 인해 웨이퍼를 매우 정확하게 배치하고 방향을 정할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 사용자에게 친숙한 인터페이스, 테스트 데이터 저장을 위한 라이브러리 등 포괄적인 데이터 관리 기능을 갖추고 있습니다. CSV, TXT 및 Macfitex와 같은 다양한 데이터 형식을 지원합니다. 또한 히스토그램, 추세 플롯, Z 점수, 고급 통계 데이터 처리 도구 등 다양한 분석 툴을 제공합니다. TSK UF200 은 다양한 기능을 제공하는 고급 프로버 (Prober) 로서 다양한 IC 및 디바이스를 테스트하는 데 적합합니다. 사용이 간편한 인터페이스와 다양한 검사 (Inspection) 기능을 통해 정확성과 생산성을 향상시킬 수 있습니다. 고속 데이터 전송 및 고급 웨이퍼 처리 (wafer handling) 기능을 통해 자동화 애플리케이션에 이상적인 솔루션을 선택할 수 있습니다.