판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9243719

ACCRETECH/TSK UF 200 Prober는 반도체 테스트 응용 프로그램의 도전적인 조사 요구 사항을 충족하도록 설계된 현대적이고 정밀한 Semiconductor Probing Solution입니다. 프로버 (Prober) 는 안정적이고 정확한 프로브를 제공하도록 설계되어 신뢰성과 높은 정확도 웨이퍼 (wafer) 또는 장치 테스트 어플리케이션에 적합합니다. TSK UF 200에는 웨이퍼 프로브, 장치 프로브, 접착 및 방출 테스트, 충격 및 진동 테스트 등 여러 가지 기능이 있습니다. 또한 정확한 Probe 및 샘플 정렬을 보장하는 자동 교정 장비가 있습니다. Prober는 고급 광학 스캐닝 시스템 (Optical Scanning System) 과 정확한 모멘트 조정 장치 (Moment Adjustment Unit) 를 사용하여 정확한 샘플 위치를 확인합니다. Prober는 또한 테스트 중인 장치를 시각화 할 수있는 고성능 현미경을 가지고 있습니다. Prober는 또한 공기 베어링 단계를 갖춘 기판 독립 프로브 (Substrate-Independent Probing) 를 통해 샘플 배치를 단순화하고 프로브 중 샘플 손상을 줄이는 데 도움이됩니다. ACCRETECH UF200 Prober는 또한 최신 인터페이스를 통해 Prober를 쉽게 설정하고 구성할 수 있습니다. 또한 프로그래밍 가능한 사용자 인터페이스와 원격 진단 (remote diagnostics) 기능을 통해 Prober 성능을 모니터링하고 Probe 작업을 추적할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 다양한 샘플 크기에 대한 안정적이고 정확한 테스트를 보장하기 위해 고급 고정장치 제어 머신을 갖추고 있습니다. Prober는 ESD 및 SEMI 표준을 포함한 다양한 테스트 및 웨이퍼 프로세스 요구 사항을 준수하도록 설계되었습니다. 또한 긴 가장자리를 프로브할 때 정확하고 반복 가능한 모서리 참조를 보장하는 18 점 모서리 정렬 (18-Point Edge Alignment) 도구가 있습니다. ACCRETECH UF 200 Prober에는 고해상도 비디오 에셋과 강력한 데이터 획득 패키지가 장착되어 있어 웨이퍼/장치 데이터를 손쉽게 수집, 분석, 저장할 수 있습니다. Prober는 또한 빠르고 정확한 샘플 포지셔닝을 위해 고성능 전자 동력 단계를 갖추고 있습니다. UF200 Prober는 안정적이고 정확한 Probing 기능을 제공하도록 설계되어, 고정밀 (high-precision) 신뢰성 및 장치 테스트 어플리케이션에 이상적인 Prober입니다. Prober는 고급 기능을 통해 가장 엄격한 반도체 프로브 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다.