판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9237400

ACCRETECH/TSK UF 200 prober는 회로 기판 테스터, 고장 분석 및 웨이퍼 측정을 위해 설계된 전체 자동 검사 및 검사 장비입니다. 그것 은 매우 정확 하면서도, 융통성 있는, 높은 정도 의 정확도 와 효율성 으로 조사 할 수 있는 기구 를 가지고 있다. TSK UF 200은 디지털 신호 처리 시스템을 사용하여 고속 스캐닝 속도 (500pixels/sec) 와 최대 신호 대 잡음 비율 (80dB) 을 달성하는 고해상도 고속 프로버입니다. 또한 자동 매개 변수 조정 및 신호 모니터링 기능을 갖춘 통합 신호 재생 장치 (signal reconditioning unit) 가 있습니다. 기계는 두 가지 검사 방법을 제공합니다. 직접 연락 및 비접촉. 직접 접촉 (direct contact) 방법은 전자기 작동기를 사용하며 큰 다중 핀 장치 또는 전기 접촉 저항이 적은 샘플을 테스트하도록 설계되었습니다. 비접촉법 (non-contact method) 은 정전용 커플 링 (cavacitive coupling) 을 통해 점을 샘플링하기 위해 물리적 접촉과 프로브가 필요하지 않으므로 높은 저항을 가진 재료 또는 높은 정전용량을 가진 샘플을 테스트하는 데 적합합니다. ACCRETECH UF200은 RMS 위치 정확도 10nm, V-tip 평판 정확도 1 미크론 및 X-Y 선형 ± 3 pA를 갖는 매우 정확한 증명자입니다. 이 도구는 빠르고 신뢰할 수있는 온웨퍼 프로브를 위해 자동 보정 에셋을 제공합니다. 이 모델에는 최대 10-6 Torr의 높은 진공 수준을 유지할 수있는 통합 2 단계 진공 펌프가 있습니다. 다른 기능으로는 고속, 고정밀 스테퍼 모터, 빠른 응답, 다양한 선형 및 비선형 게인 설정이있는 낮은 왜곡 신호 증폭기 (low-distortion signal amplifier) 가 있습니다. 또한 Prober는 자동, 반자동 및 수동 작업 옵션을 제공합니다. 자동 연산 (automatic operation) 은 각 접점 (contact point) 의 위치 및 신호 값을 최적화하여 모든 측정의 정확도와 정밀도를 높입니다. 이 장비는 또한 직관적이고, 사용자에게 친숙한 그래픽 인터페이스를 제공하여 작업의 모든 매개변수를 제어합니다. UF 200 검사는 웨이퍼 레벨 화상 및 수리, IC 테스트에도 사용할 수 있습니다. 이 제품은 신뢰할 수 있고 반복 가능한 Prober 솔루션을 필요로 하는 전자 엔지니어 (Electronic Engineer) 와 생산 테스터 (Production Tester) 를 위한 이상적인 도구입니다. 수명 주기가 길고 정확도가 높은 ACCRETECH/TSK UF200 Prober는 정밀 조사 및 테스트 요구 사항을 충족하는 비용 효율적이고 안정적인 솔루션입니다.