판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9235938
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ID: 9235938
빈티지: 2003
Prober
Manipulator: MHF300L
Stage chuck: Gold chuck
Temperature control: Hot chuck
Frequency band chuck temperature: 30°C~151°C
Cleaning unit type: Aluminum pad (120mm x 60mm)
CPU Board version: MVME-162
Ethernet
Slot number / Boards
Slot 1 / CPU
Slot 4 / VGAC
Slot 6 / COGNEX
Slot 8 / PIO
Slot 10 / TTL/GP-IB
Slot 11 / 5CH PGEN
Slot 14 / CAP Sensor
Slot 16 / AVME
Slot 17 / LD. IO
Slot 18 / LD. PGEN
ETC:
COGNEX Board version: 4300
External media: FDD
2003 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200은 Technical Standard KK에서 설계 및 제조 한 전문가이며 반도체 및 전자 산업의 다양한 prober 애플리케이션에 적합합니다. 프로브 (Probe), 검사 (Inspection), 클리닝 (Cleaning) 등 다양한 복잡한 프로세스를 수행할 수있는 고정밀 도구입니다. Prober는 도구 프레임, Probe 카드, 드라이브 장치, XYZ 이동 단계 및 컨트롤러로 구성됩니다. 공구 (tool) 프레임은 정확한 프로브 및 측정을 위해 매우 단단하게 만들어집니다. 프로브 (Probe) 카드는 프로브를 고정하고 컨트롤러에 전기 연결을 제공하도록 설계되었습니다. 드라이브 장치는 XYZ 단계를 정확한 방식으로 이동하며, 스텝 앤 리피트 (step-and-repeat) 기능을 제공합니다. XYZ 스테이지의 정밀도는 0.0002 인치인 높은 정밀도 4 축 동작 기능이 있습니다. 또한 자동 피치 조정 (Automatic Pitch Adjustment) 옵션을 사용하여 검사 프로세스 전반에 걸쳐 피치와 회전 값을 수정합니다. 이 프로버는 0 ~ 15 그램의 조절 가능한 프로브 포스 범위를 자랑하며 웨이퍼 척 (wafer chuck) 은 200mm 및 300mm를 포함한 다양한 크기의 웨이퍼를 처리하도록 설계되었습니다. 프로버는 또한 최대 0.25mm의 웨이퍼 두께를 처리 할 수 있습니다. 컨트롤러 (Controller) 는 사용자의 특정 요구에 맞게 설정할 수 있는 사용자 정의 가능한 장치입니다. 여기에는 데이터 로깅, 그룹 실행, 진단 등의 기능이 포함됩니다. TSK UF 200 은 매우 정확하고 효율적인 전문가로서, 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 광범위한 조사 및 검사 작업을 수행할 수 있으며, 최대 300mm (wafer) 크기의 웨이퍼 (wafer) 를 처리 할 수 있습니다. 이 장치는 0.0002 인치의 정확도와 단계 및 반복 기능으로 매우 정확한 XYZ 단계를 제공합니다. 조정 가능한 프로빙 힘 범위는 0-15 그램으로 정확한 프로브 및 검사 과정을 보장합니다. 사용자 지정 기능이 뛰어난 컨트롤러로, 디바이스의 유연성과 사용자 친화성을 더욱 높일 수 있습니다.
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