판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9203169

ACCRETECH/TSK UF 200은 집적 회로 (IC) 의 전기 특성을 분석하는 데 사용되는 증명자입니다. 안정성 테스트, 장애 분석, 스트레스 테스트, 신호 무결성, 신호 무결성, 소음 분석 등 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 프로버는 웨이퍼 레벨 및 장치 레벨 프로브에 모두 사용될 수 있습니다. 이 프로버는 특허를받은 True Focus Probe Electrode 기술을 사용하여 매우 작은 IC 및 기타 전자 부품에 대한 고정밀 테스트를 지원합니다. 트루 포커스 프로브 전극 (True Focus Probe Electrode) 은 전극 교배에 필요한 비아 수를 크게 줄여 IC의 패드를 정확하게 찾아서 연락 할 수 있습니다. 테스트 수행에 걸리는 시간을 줄이고, 결과의 정확도를 높입니다 (영문). TSK UF 200은 또한 동적 프로브 높이 보정을 특징으로하며, 이는 다른 IC 패드 또는 구조 사이의 표면 지형 차이를 보상 할 수 있습니다. 이는 표면 지형에 관계없이 정확한 전기 특성 및 테스트를 보장합니다. 이 프로버 (Prober) 는 일관된 작동 온도를 유지하기 위해 신뢰성이 높은 공기 베어링 스테이지와 폐쇄 루프 온도 제어 시스템을 갖추고 있습니다. 이를 통해 테스트 정확성과 신뢰성이 향상됩니다. 프로버 (Prober) 는 또한 자동 테스트 포지셔닝 시스템을 가지고 있으며, 이를 통해 원하는 테스트 포인트 위로 Prober 바늘을 정확하게 이동할 수 있습니다. 이렇게 하면 잠재적 인 정렬 오류 가 없어지고, 정확 한 "테스트 포인트 '가 신속 하고 정확 하게 조사 될 수 있다. 마지막으로, 프로버 (Prober) 에는 테스트 프로세스를 사용자 정의하는 데 사용할 수있는 다양한 액세서리가 장착되어 있습니다. 여기에는 데이터베이스 모듈, 데이터 분석 모듈, 보드 매니저 모듈, 패턴 생성기 모듈 등이 포함됩니다. 결론적으로, ACCRETECH UF200은 신뢰성 테스트, 장애 분석, 스트레스 테스트, 신호 무결성, 소음 분석 등 다양한 애플리케이션에 이상적인 다양한 기능과 기능을 제공하는 고급 전문가입니다. 이 프로버는 매우 작은 IC를 정확하게 감지하고 분석하는 한편, 신뢰할 수있는 공기 베어링 단계, 동적 프로브 높이 보상 및 폐쇄 루프 온도 제어 시스템 (closed-loop temperature control system) 을 제공합니다. 또한 다양한 액세서리를 사용하여 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다.