판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #9171736

ACCRETECH/TSK UF 200은 뛰어난 정렬 정확도, 스크래치 프리 접촉 및 높은 수준의 반복 성을 제공하도록 설계된 반도체 프로버입니다. 소형 샘플에서 고밀도 멀티 핀 (multi-pin) 에 이르기까지 다양한 어플리케이션을 처리할 수 있도록 설계되었습니다. 프로버는 서브 마이크로 미터 선형 위치 정밀도, 대형 웨이퍼 커패시턴스를 허용하는 2 개의 쌓인 척 암 (chuck arms) 및 낮은 무게와 낮은 열 팽창 계수 재료를 갖는 웨이퍼 플래튼 홀더 (wafer platen holder) 를 갖춘 웨이퍼 척 스테이지를 특징으로합니다. 이를 통해 샘플과 스크래치 (scratch) 자유 접촉을 유지하면서 정렬 정확도를 높일 수 있습니다. 척 (chuck) 과 샘플링 포인트 사이에 2mm 간격의 받침대 (pedestal chuck base) 가 있으며, 더 낮은 열 번거로움과 유연한 샘플 작업을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 0.1 나노 미터 해상도의 폐쇄 루프 제어 시스템을 갖추고 있으며, 이는 프로브 중 높은 반복성과 안정성을 보장한다. 또한 열 관성 효과를 줄이기 위해 임베디드 피드 포워드 (feed-forward) 시스템과 부드러운 작동 및 빠른 응답 응답을 제공하는 에어 베어링 (air bearing) 이 포함되어 있습니다. TSK UF 200에는 또한 실시간 데이터를 사용하여 유선 (leaky) 및 유선 (miswired) 칩을 감지하는 내장 수율 분석 시스템이 포함되어 있습니다. 또한, 실시간 프로그램 런처 (launcher) 와 효율적인 자동 웨이퍼 프로브를 용이하게하기위한 광범위한 자동화 스크립트가 포함되어 있습니다. ACCRETECH UF200 (ACCRETECH UF200) 은 웨이퍼 프로빙에서 높은 정확성과 반복성을 제공하도록 설계되어 샘플을 손상시키거나 Prober 자체를 손상시킬 수 있습니다. 또한 수율 분석 (Yield Analysis) 및 자동화 (Automation) 기능을 향상시켜 더 적은 시간에 더 많은 데이터를 얻을 수 있습니다. 대용량 또는 민감한 샘플 프로브에 이상적인 솔루션입니다.