판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #293740815

TSK UF 200은 다양한 반도체 테스트 응용 프로그램에 사용하도록 설계된 전문가입니다. 트랜지스터에서 다이 (die) 에 이르는 다양한 반도체 장치를 검사, 측정, 교정하도록 설계된 자동화된 고속, 멀티 채널 프로버입니다. 프로버 (Prober) 는 이러한 장치의 전기 성능 및 성능 특성을 효율적으로 검사하고 검증하는 데 사용될 수 있습니다. TSK UF-200 에는 웨이퍼 (wafer) 또는 장치의 여러 측면과 매개변수를 동시에 측정할 수있는 여러 개의 프로브가 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 디바이스 성능 및 매개 변수를 신속하게 평가할 수 있습니다. 이 Prober를 사용하면 기능 테스트, 패라메트릭 분석, 결함 검사 등 다양한 테스트를 수행할 수 있습니다. UF 200 은 향상된 웨이퍼 장착 (wafer mounting) 기술을 통해 수동 조사 (manual probing) 에 비해 더 안정적인 측정치를 얻을 수 있습니다. UF-200은 사용하기 쉽고 유연하며 직관적인 사용자 인터페이스를 갖추고 있습니다. '메뉴 기반 프로그래밍 (menu driven programming)' 을 통해 사용자는 다양한 테스트 응용 프로그램을 수행하는 데 필요한 설정을 신속하게 조정할 수 있습니다. 또한 다양한 추가 기능 (예: 실시간 모니터링, 데이터 저장 및 추적 테스트), 여러 테스트 결과를 하나의 파일에 저장할 수 있습니다. 또한 TSK UF 200에는 매우 정확하고 안정적인 결과를 제공하는 고성능 멀티 채널 빔 포지셔너 (multi-channel beam positioner) 가 장착되어 있습니다. 또한, 프로버에는 PID (비례 적분 도함수) 컨트롤러가 있으며, 이는 프로브가 항상 레벨이며 결과가 항상 정확한지 확인합니다. 마지막으로, 이 Prober는 또한 하이엔드 데이터 획득 시스템 (High-End Data Acquisition System) 을 포함하여 수많은 테스트 애플리케이션에 대한 결과를 빠르고 쉽게 분석하고 그래프로 그릴 수 있습니다. 전체적으로, TSK UF-200 은 다양한 반도체 테스트 어플리케이션에서, 사용자가 안정적이고 정확한 결과를 얻을 수 있도록 해 주는 고성능 전문가입니다. 간편한 사용자 인터페이스, 고급 웨이퍼 장착 기술, 다중 프로브, 직관적인 프로그래밍 환경, 실시간 모니터링, 하이엔드 데이터 획득 시스템 등을 갖추고 있습니다. 유연하고 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 결합하여 다양한 테스트 애플리케이션 (testing application) 을 선택할 수 있습니다.