판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #293630333

ACCRETECH/TSK UF 200은 집적 회로 (IC) 의 빠르고 정확한 테스트 및 특성을 위해 설계된 전문가입니다. IC의 전기적 특성을 빠르게 평가하기 위해 수백만 핀 (pin) 접촉을 테스트하고 접촉을 할 수 있는 전자동 (fully automated) 증명서입니다. TSK UF 200에는 우수한 테스트 솔루션이 될 수있는 몇 가지 기능이 있습니다. 첫 번째 기능은 고유한 로터리 암 (rotary arm) 으로, 여러 핀과 동시에 접촉하고 특정 주기로 회전하여 접촉 바운싱 (Contact Bouncing) 이나 페일오버 (Failover) 없이 최대 핀 연결이 이루어지도록 합니다. 두 번째 기능은 각 접촉 핀에 대해 정확하고 일관된 Probing Force를 가능하게 하는 유연한 가이드 시스템입니다. 가이드 시스템은 테스트를 위해 IC 너비에 맞게 조정할 수 있습니다. 세 번째 기능은 새로 설계된 OptiProbe (OptiProbe) 로, 프로브를 자동으로 전환하여 보다 정확한 프로브를 수행할 수 있습니다. ACCRETECH UF200에는 자동 교정 블록이 장착되어 있어 모든 핀에 정확한 접촉 수준과 신호 무결성 (signal integrity) 이 있습니다. 교정 (calibration) 블록은 테스트 핀의 다양한 위치 및 신호 수준을 조정하여 정확한 IC 작업을 보장합니다. 또한 강력한 GUI (Graphical User Interface) 를 제공하여 Prober의 설정을 쉽고 정확하게 제어할 수 있으며 테스트 프로세스에 대한 전체 개요를 제공합니다. ACCRETECH/TSK UF200 은 또한 1 초 안에 전체 IC 를 스캔할 수있는 고속 스캐너를 가지고 있으며, 이를 통해 기존 Prober 를 사용하는 것과 비교하여 IC 를 보다 빠르게 테스트하고 최적화할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF 200은 정확한 테스트 결과에 최적화되어 있습니다. DFT (Design for Testability), ATE (Automated Test Equipment), Thermal Scanning 등과 같은 고급 테스트 기능 및 타이밍 분석 도구가 장착되어 있습니다. 결국, TSK UF200은 집적 회로의 빠르고 정확한 테스트와 특성을 위해 설계된 강력한 전문가입니다. 독보적인 로터리 암, 유연한 가이드 시스템, OptiProbe, 자동 교정 블록, 고속 스캐너 등을 통해 정확하고 일관된 Probing을 통해 보다 효율적인 IC 테스트를 수행할 수 있습니다. IC 테스트를 간소화하는 이상적인 툴로서, 보다 신속한 테스트와 최적화를 지원합니다.