판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #293626668

ACCRETECH/TSK UF 200은 반도체 장치 및 재료의 비 침습적 평가 및 분석을 위해 특별히 설계된 전문가입니다. 기판 또는 장치를 손상시키지 않고 충격이 적은 프로브를 할 수 있습니다. 이 프로버는 독특한 진공 보조 확장 장비를 갖추고 있으며, 현대 반도체 패키징 내의 단단한 공간에 최적화되었습니다. 이 시스템은 또한 기판의 얇은 샘플 패드와 안정적인 접촉을 보장합니다. TSK UF 200은 저력 측정 단위를 자랑하며, 이는 샘플에 대한 최소한의 노력이나 스트레스로 정확한 접촉 신호를 생성합니다. 이 기계는 최소한의 표면 손상으로 반도체 특성을 정확하게 평가할 수 있습니다. Prober는 사전 설정과 자동 감지 기능을 제공하여 프로세스를 더욱 단순화합니다. ACCRETECH UF200은 ESC (Integrated Electrostatic Chuck) 와 연동하여 효과적인 접지를 제공하여 전자 부품 손상 위험을 줄입니다. 통합 ESC (Integrated ESC) 는 샘플을 프로브에 비해 완벽하고 수직인 위치에 둘 수 있으므로 측정 중에 서피스가 손상되지 않은 상태로 유지됩니다. 이 기능은 특히 장치 및 플립 칩과 같은 재료에 중요합니다. TSK UF200 은 높은 정밀도 (precision) 조사 기능으로 인해 액세스가 어려운 프로브 사이트에 도달 할 수 있습니다. 또한 독립적인 위치 정렬 도구 (positional alignment tool) 로 인해 열 팽창 (thermal expansion) 또는 기타 외부 힘 (external force) 으로 인해 샘플의 물리적 변화에 대처할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF200 은 정확도가 높은 Probing 기능 외에도 시장 내 다양한 Probing Tools 와 호환되며, 개별 요구 사항에 맞게 Probing Process 를 사용자 정의할 수 있습니다. "UF200 '은 반도체 물질 의 전기 및 물리적 특성 을 정확 하고 신속 하게 분석 할 수 있다. 일반적으로 이산 반도체 부품 또는 집적 회로를 평가하는 과정에서 사용됩니다. 이 다양한 프로버 (Prober) 는 다양한 소프트웨어 응용 프로그램 및 하드웨어 컴포넌트 라이브러리와 호환되므로 필요에 따라 사용자 정의 프로브 (Probing) 프로세스를 작성할 수 있습니다. UF 200은 사용자 안전과 편의를 염두에 두고 설계되었습니다. 사용 및 설치가 비교적 쉽고, 복잡한 유지 보수가 필요하지 않습니다. 또한 Prober에는 자체 모니터링 (Self Monitoring) 기능이 장착되어 있어 프로세스가 오류 없이 원활하게 실행됩니다.