판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #293617577

ACCRETECH/TSK UF 200은 프로덕션 환경에서 웨이퍼 검사 및 테스트 기능을 제공하도록 설계된 Prober입니다. 이 프로버에는 1000mm x 400mm 이동 범위와 최대 400mm 사각형의 다이 크기가 장착되어 있습니다. TSK UF 200 은 제품 테스트, 패널 조사, 다이 프로빙 등 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. ACCRETECH UF200 (ACCRETECH UF200) 은 신뢰할 수있는 웨이퍼 조사 및 테스트를위한 다양한 기능을 갖춘 고급 전문가입니다. 프로버는 이중 축 X-Y 테이블, 웨이퍼 프로브를위한 HI-Z 펄스 생성기, 샘플 등록을위한 각도 조정기를 갖춘 6 축 설계를 가지고 있습니다. 또한 데이터 수집 및 자동 단계 관리를 위한 높은 정확도 측정 장비를 갖추고 있습니다 (영문). 이 Prober는 완전히 프로그래밍 가능한 CNC 제어를 통해 시스템에서 쉽고 빠르게 유지 관리할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF200은 고해상도, 고속 DVS (Digital Vision Unit), 정확한 이미지 분석 기능 및 자동 결함 검사를 통해 설계되었습니다. 고급 CCD 캡처 기술은 박막 트랜지스터 검사, 자동 정렬, 웨이퍼 패턴 일치 등 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. 또한 UF 200 은 전체 툴에 대한 통합 제어 및 모니터링 기능을 제공하는 완벽한 운영 라인 관리 머신 (production line management machine) 을 제공합니다. 이 Prober는 프로세스 중 (in-process) 및 포스트 프로세스 (post-process) 테스트 기능을 갖추고 있어 모든 샘플에서 빠른 속도와 정확한 측정이 가능합니다. 프로세스 내 테스트 기능은 생산 중 웨이퍼 수율을 증가시킵니다. 또한, UF200의 포스트 프로세스 테스트 (post-process testing) 기능은 전체 웨이퍼 표면에서 정확한 측정을 위해 고전압 또는 전류를 적용합니다. 이 Prober에는 샘플의 빠른 정렬, 감지 및 교정을위한 기능도 있습니다. TSK UF200 은 손쉽게 작동할 수 있도록 설계되어 있어 빠르고 정확한 설치 및 작동이 가능합니다. 사용자 친화적 인터페이스, 그래픽 운영자 지침, 교육/유지 보수가 효율적이고 복잡하지 않습니다. ACCRETECH UF 200 은 온라인 데이터 획득 기능도 갖추고 있어 자산으로부터 직접 실시간 웨이퍼 (wafer) 정보를 얻을 수 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK UF 200은 광범위한 기능과 어플리케이션을 갖춘 고급 전문가입니다. 이 Prober는 고속, 정확성, 사용이 간편한 모델로, 프로덕션 환경에서 안정적인 Wafer Probing 및 Testing 기능을 제공하도록 설계되었습니다.