판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200 #293597861

ACCRETECH/TSK UF 200은 샘플의 물리적 표면을 시각화하고 측정하는 데 사용되는 접촉 유형 표면 지형 측정 기기입니다. 반도체 (반도체) 와 다른 산업에서 사용되는 샘플의 미세 거칠기 (fine-scale roughness) 를 분석하는 데 사용됩니다. 접촉식 표면 지형 측정 장치를 사용하면 비접촉식 (non-contact) 방법으로 가능보다 정확도가 높은 고정밀도 및 반복 가능한 측정이 가능합니다. 커패시티브 커플 링 된 압력 스타일러스 (capacitively coupled pressure stylus) 를 사용하여 프로브는 미세한 수준에서 다양한 샘플 표면 특성을 측정 할 수 있습니다. 또한 스타일러스를 사용하여 서피스 마무리, 서피스 텍스처, 서피스 구조 등의 특성을 측정할 수 있습니다. 3 축 제어 시스템을 특징으로하여 균일 한 압력 힘을 적용할 수 있습니다. 스타일러스가 샘플과 직접 접촉하도록 함으로써, TSK UF 200 (UF 200) 은 다른 측정 장치보다 빠르고 정확한 측정을 제공 할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH UF200 은 고급 비전 시스템 (Advanced Vision System) 과 소프트웨어를 통해 다양한 데이터 캡처 및 분석 기능을 제공합니다. 3D 컨투어 모양과 측정을 자동으로 감지하고, 재료를 구분하며, 균일성, 크기, 깊이 등 다양한 텍스처 특성을 식별할 수 있습니다. 이 장치는 또한 표면적 (surface area) 과 부피 (volume) 를 측정할 수 있으며, 표준 샘플과 비교할 때 사용할 수 있는 샘플의 3D 지형 이미지를 생성할 수 있습니다. 첨단 소프트웨어와 다양한 표면 특성을 정확하게 측정 할 수있는 능력 덕분에 UF200은 모터 스포츠 및 자동차, 항공 우주, 의료 기기 제조 (medical device manufacturing), 광자 (photonics) 및 정밀 표면 측정이 필요한 기타 업계에 사용할 수 있습니다. 이렇게 하면, 매우 유용 한 측정 장치 로서, 이 장치 는 광범위 한 "응용프로그램 '에 대해 빠르고 정확 한 판독 을 할 수 있다.