판매용 중고 ACCRETECH / TSK SA-2500 #9270843

ACCRETECH/TSK SA-2500은 3D IC 테스트 및 분석을 위해 설계된 전문가입니다. 반도체 미세구조 (microsstructure) 를 비롯한 다양한 응용프로그램에 대한 종합적인 표면 분석을 제공할 수 있는 효율적이고 고정밀 (high-precision) 테스트 도구다. TSK SA-2500은 유연하고 매우 민감한 설계를 갖추고 있습니다. 고급 3D 이미징, 전기 특성, 동적 데이터 획득 등 다양한 기능을 제공합니다. 반복 가능한 결과를 높은 정밀도로 제공하도록 설계되었습니다. ACCRETECH SA-2500 은 강력하고 신뢰할 수 있는 이중 채널 (Dual-Channel) 아키텍처를 통해 디바이스의 양쪽에서 테스트를 수행할 수 있습니다. 샘플 전송을 위한 3 축의 모션 (motion) 을 사용하면 단일 테스트 세션에서 많은 수의 장치를 신속하게 샘플링할 수 있습니다. SA-2500 은 테스트와 분석을 용이하게 하기 위해 강력하고 정교한 제어 장비를 갖추고 있습니다. 제어 시스템은 사용이 편리한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 사용자가 신속하게 테스트 설정, 프로그램, 실행을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 여러 사용자가 사용자 정의 테스트 프로파일을 개발하고 쉽게 공유할 수 있습니다 (영문). 이미지 분석을 위해 ACCRETECH/TSK SA-2500은 다양한 기능을 감지 할 수있는 고급 광 및 CCD 이미징 시스템을 갖추고 있습니다. 이 기계는 최대 500 배의 배율로 고해상도 이미지를 만들 수 있습니다. 이 도구에는 포커스 스태킹, 색상 맵 분석, 패턴 인식, 피쳐 측정 등 다양한 고급 처리 옵션도 포함됩니다. TSK SA-2500 의 고급 도량형 자산 (Advanced Metrology Asset) 을 통해 다양한 기능을 정확하게 측정 및 분석할 수 있습니다. 최대 10 mm/sec 의 고속 스캔 속도와 유연한 범위의 프로브 팁 (Probe Tip) 을 갖춘 모델로, 단일 장치에서 다양한 측정이 가능합니다. 또한, 장비는 온도, 열 전이 속도, 출력 전원 수준 등 동적 데이터를 기록하고 분석할 수 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH SA-2500은 3D IC 테스트 및 표면 분석을 위해 설계된 고급 전문가입니다. 이 제품은 다양한 반도체 미세 구조를 테스트하기 위한 효율적이고 정확한 장비를 제공합니다. 고급 이미징 시스템, 도량형 (metrology), 동적 데이터 획득 (dynamic data acquisition) 기능을 결합한 SA-2500 은 다양한 마이크로일렉트로닉 장치를 연구하고 분석하는 데 매우 유용한 툴입니다.