판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 410 #293608351

ACCRETECH/TSK MHF 410은 다양한 모듈 크기에 대해 정확하고 효율적인 측정 기능을 제공하는 Prober 장비입니다. 이 시스템에는 고속 (Fast) 및 고정밀 (High-Precision) 프로브뿐 아니라 자동 제품 처리에 사용될 수있는 특수 기능이 있습니다. 내부/외부 컨덕터 너비의 고정밀 측정과 같은 자동화된 내부/외부 측정에 사용할 수 있습니다. TSK MHF 410은 두께, 너비, 둥근 모양 등 다양한 형상을 빠르고 정확하게 조사하고 측정할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 단위는 접촉 (Contact), 하단 범프 (Bottom Bump) 및 기타 유형을 통해 플랫 패드 형상 (Flat Pad Geometry) 과 같은 다양한 모양을 측정 할 수 있습니다. 기계에는 내부/외부 컨덕터 너비를 정확하게 측정 할 수있는 특수 피쳐 (special feature) 가 있습니다. 이 도구는 또한 CTAR (Special Probe Card Loading and Removal Asset) 을 제공하여 표면의 Probe 카드를 최대 90도까지 회전시켜 다양한 모듈 크기를 처리할 수 있습니다. 또한 구성 요소 하단의 작은 굴 (burr) 을 측정 할 수 있으며, 보드 표면에 접촉하지 않아도 되므로 보드 (board) 에 대한 손상 또는 오염 위험이 크게 줄어듭니다. ACCRETECH MHF 410은 LED (Light-Emitting-Diode) 어레이를 사용하여 매우 정확하고 재현 가능한 측정 결과를 보장합니다. 프로브 헤드 압력 (Probe Head Pressure) 및 오프셋 (Offset) 을 포함하여 프로브 조건을 조정하는 자동 교정 기능이 내장되어 있으며, 프로브 헤드 압력 (Probe Head Pressure) 과 오프셋 (Offset) 을 유지하여 정확하고 재현 가능한 측정 결과를 제공합니다. 이 장비에는 실시간 이미지 처리 시스템 (real-time image processing system) 이 장착되어 있어 다양한 스캐닝 (scanning) 기술을 사용하여 더 빠르고 정밀한 측정값을 제공합니다. 전반적으로, MHF 410 (MHF 410) 은 구성 요소 하단의 작은 버를 포함하여 다양한 모듈 크기에 대해 정확하고 효율적인 측정 기능을 제공하는 고급 Prober 유닛입니다. 동시 접촉 및 비접촉 스캔을 포함한 유연한 프로브를 제공합니다. 또한 빠르고 정확한 자동 교정, 실시간 이미지 처리 기계 및 Probe Force 피드백 툴이 있습니다. 이러한 모든 기능을 통해 ACCRETECH/TSK MHF 410은 다양한 Probe 및 측정 어플리케이션을 위한 효율적이고 안정적인 선택이 가능합니다.