판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 410 #293608348

ACCRETECH/TSK MHF 410은 반도체 장치의 높은 정확도 조사 및 전기 테스트를 위해 설계된 고급 Prober 장비입니다. 고급 패키징 및 장치 테스트 어플리케이션을 지원하기 위한 완벽한 Prober입니다. 또한 대용량 (Wafer Size) 용량, 고속, 정확한 데이터 수집, 효율적인 미디어 처리, 간편한 설치/운영 등 다양한 기능과 이점을 제공합니다. TSK MHF 410의 모듈식 설계는 광범위한 사용자 정의를 가능하게 합니다. 기본 모듈과 특정 애플리케이션에 따라 최대 5 개의 확장 가능한 옵션이 제공됩니다. 이러한 옵션에는 선택적 미디어 교환 시스템, 어레이 폴핸들러, 비전 유닛, 다중 축 척 머신, 비전 정렬 도구가 포함됩니다. ACCRETECH MHF 410에 포함 된 Probe 카드에는 높은 정확도 프로브를 제공하는 고급 기능이 있습니다. 이것은 운동학적 유형 구조를 가진 낮은 인덕턴스 프로브 (inductance probe) 디자인을 사용하여 달성됩니다. 이 구조는 프로브의 유도 (inductance) 를 최소화하여 빠르고 정확한 데이터 전송을 허용합니다. 미디어 교환 자산을 사용하면 효율적이고 정확한 미디어 처리를 수행할 수 있습니다. 비전 모델은 오실로스코프, 전압 소스 및 디지털 멀티미터로 구성됩니다. "웨이퍼 '에 있는 장치 의 전기 특성 을 정확 하게 측정 하는 데 사용 할 수 있다. 다중 축 척 (multi-axis chuck) 장비도 필수적입니다. 이는 웨이퍼를 X 방향과 Y 방향으로 이동할 수 있기 때문입니다. 이 기능을 사용하면 Wafer 를 정확하게 검색하고 이미지를 표시할 수 있습니다. MHF 410은 사용하기 쉽고 설정과 작동을 최소화합니다. 또한 자체 사용자 인터페이스를 통해 다중 장치 (multiple-unit) 설정을 시각화하고 구성할 수 있습니다. 또한, ACCRETECH/TSK MHF 410은 표준 인터페이스를 통해 모든 컴퓨터 시스템에 연결할 수 있으며, 이를 통해 사용자는 Prober를 제어하고 데이터를 컴퓨터로 직접 수집할 수 있습니다. TSK MHF 410은 복잡한 반도체 장치 테스트 응용 프로그램에 이상적인 정확하고 고성능 전문가입니다. 높은 정확도, 정확한 설계를 통해 사용자는 디바이스 테스트와 Probe를 모두 위한 최적의 플랫폼을 제공합니다. 또한 ACCRETECH MHF 410 은 사용 편이성을 위해 설계된 제품으로, 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 와 간편한 설치/운영 기능을 제공합니다.