판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 4000 #9035725

ACCRETECH/TSK MHF 4000은 집적 회로, 마이크로 프로세서, 메모리 칩 및 기타 개별 전자 부품과 같은 장치의 테스트 및 조사를 위해 설계된 Prober입니다. 이 장비는 WAP (Wafer Automatic Probing) 와 바늘 미세 조사 기술을 결합하여 높은 수준의 정확성과 안정성을 제공합니다. TSK MHF 4000은 0.5mm, 0.25mm, 0.125mm 및 0.08mm를 포함한 다양한 피치와 크기에서 조사 할 수 있습니다. WAP (High-Precision Alignment) 는 WAP 기술을 통해 Wafer 의 기본 구성 요소로 바늘을 고정밀접하게 정렬할 수 있으며, 이를 통해 최상의 구조를 찾아내고 매핑할 수 있습니다. 또한 ACCRETECH MHF 4000은 독특한 바늘 미세 조사 기술을 갖추고 있어 매우 높은 수준의 정확성과 정확도를 제공합니다. 이 기술은 광학 시스템 (optical system) 과 기계 시스템 (mechanical system) 의 조합을 활용하여 매우 작은 거리에서 구성 요소를 정확하게 찾아서 조사합니다. MHF 4000 은 다양한 테스트/조사 (testing/probing) 기능을 수행할 수 있는 포괄적인 소프트웨어/하드웨어 기능을 갖추고 있습니다. 직관적 인 GUI (Graphical User Interface) 와 함께 향상된 컴퓨팅 성능을 통해 운영자는 장치를 빠르고 쉽게 구성하고 모니터링 할 수 있습니다. 이 프로버 (Prober) 는 개방형 아키텍처 플랫폼 (Open Architecture Platform) 을 갖추고 있어 기존 생산 라인과 테스트 셀에 쉽게 통합 할 수 있습니다. 테스트의 정확성과 신뢰성을 보장하기 위해 ACCRETECH/TSK MHF 4000에는 간섭 파형 측정, 파형 비교, 전력 고장 측정, 원자력 현미경 등 다양한 프로빙 기능이 제공됩니다. 이러한 기능을 통해 기계는 장치 성능을 정확하게 평가, 진단하여 우수한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한, TSK MHF 4000에는 잘못된 정렬, 바늘 걸림 (needle jam) 및 기타 잠재적 문제를 감지하도록 설계된 포괄적인 모니터링 도구가 포함되어 있습니다. 검사가 항상 제대로 작동하는지 확인함으로써, ACCRETECH MHF 4000은 테스트 및 검사 작업으로 정확도를 최대화할 수 있습니다. MHF 4000은 미세 피치 컴포넌트 구조의 테스트 및 조사를 위해 설계된 고급 전문가입니다. WAP (Wafer Automatic Probing) 와 바늘 미세 조사 기술의 조합을 통해이 자산은 탁월한 정확성과 안정성을 제공합니다. 또한 ACCRETECH/TSK MHF 4000 은 포괄적인 소프트웨어/하드웨어 기능을 갖추고 있어 디바이스 성능을 정확하게 평가하고 진단할 수 있습니다. 또한 잠재적 인 오정 (misalignment) 과 바늘 걸림 (needle jam) 을 감지하여 테스트의 정확성과 신뢰성을 극대화하기 위해 포괄적 인 모니터링 모델을 갖추고 있습니다.