판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 400 #9030481

ACCRETECH/TSK MHF 400은 반도체 웨이퍼 및 near-to-wafer 구성 요소를 측정하기위한 높은 정확성과 정확성을 제공하도록 설계된 고급 전문가입니다. 이 도구에는 4 개의 블레이드 블레이드 (Blade Blade) 가 장착되어 있으며, 최대 깊이는 5 ½ m이며, 연구원과 엔지니어는 플랫 웨이퍼 (Flat Wafer) 의 두께와 윤곽을 정확하게 측정 할 수 있으며, 웨이퍼 표면 근처에 나타나는 불규칙성을 측정할 수 있습니다. TSK MHF 400은 최대 50mm 두께, 직경 8 인치, 가변 피치 80 발의 최대 8 인치 웨이퍼 등 다양한 웨이퍼 형식을 처리 할 수 있습니다. 이 프로버는 진공 리프팅, o-ring 또는 노즐 픽업 시스템을 포함한 다양한 웨이퍼 정렬 시스템과 호환됩니다. ACCRETECH MHF400 은 블레이드 위치의 그래픽 표시, 온도 경보 모니터 (Temperature Alarm Monitor), 진공 게이지 (Vacuum Gauge) 등 다양한 기능을 갖추고 있어 정확하고 정확한 측정을 위한 최적의 샘플 포지셔닝 기능을 제공합니다. 또한 소음이 적고 진동이없는 디자인이 있으며, 이는 마이크로 환경에서 웨이퍼 테스트에 이상적입니다. ACCRETECH MHF 400의 다른 기능으로는 자동 작업 (automated operation) 과 간편한 유지 관리를 위해 Prober 및 Wafer의 통합 설계가 있습니다. 10 분 안에 100 ° C의 온도에 도달 할 수 있으므로 웨이퍼가 측정에 최적으로 가열됩니다. 이 도구는 또한 최고 10Hz (고속) 의 고속 프로브 속도를 특징으로하며 웨이퍼 내에 존재할 수있는 불규칙성에 대해 스루 웨이퍼 (through-wafer) 탐지를 제공합니다. MHF 400 (MHF 400) 은 다재다능하고 강력한 프로버로, 연구자와 엔지니어에게 소형 크기 내에서 정확하고 신뢰할 수있는 측정을 제공하도록 설계되었습니다. 이 도구는 정확한 깊이 탐지로 웨이퍼 (wafer) 를 정확하게 측정할 수 있으며, 통합 설계를 통해 고속 프로브 (Probing) 와 자동 작업 (Automated Operation) 을 제공 할 수 있습니다. 다기능 기능을 갖춘 ACCRETECH/TSK MHF400은 Wafer 및 Near-to-Wafer 구성 요소를 측정하는 포괄적이고 안정적인 솔루션을 제공합니다.