판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 300L #9351760

ACCRETECH/TSK MHF 300L은 IC, 디스플레이 및 기타 반도체 장치 테스트를위한 최첨단 웨이퍼 전문가입니다. TSK MHF300L은 최대 40 미크론의 고정밀 프로브 및 배치 정확도를 가능하게 하는 고도의 온프로브 (on-probe) 설계를 갖추고 있습니다. 이 정확도는 온도, 습도 또는 진동과 같은 비 환경 조건에서도 유지됩니다. 이 시스템은 또한 정확한 높이, 각도 및 거리에서 프로브를 정확하게 배치하는 독특한 3 차원 동작 제어를 특징으로합니다. 이 Prober의 고급 설계 (Advanced Design) 는 특정 장치와 Probe를 맞추기 위해 온 핸드 조정과 관련된 추가 스트레스 및 비용을 제거합니다. ACCRETECH MHF 300 L은 동작 제어 외에도 정밀 장치 및 측정 옵션을 제공합니다. 임베디블 프로브 홀더는 강화 된 재료를 사용하며, 최적의 그립 및 인터페이스 안정성을 제공하도록 인체 공학적으로 설계되었습니다. 이 시스템에는 디스플레이 이미지, 아날로그 입력, 디지털 이미지 (digital image) 와 같은 항목을 테스트하기 위한 광범위한 모듈도 포함되어 있습니다. 또한, ACCRETECH MHF 300L 을 프로그래밍하여 특정 순서로 테스트를 수행하고, 구성 요소의 결함 및 오류를 감지할 수 있습니다. TSK MHF 300 L 은 (는) 운영자와 테스트되는 장치를 모두 보호하기 위해 최첨단 안전 기능으로 설계되었습니다. 국제안전기준을 준수하도록 설계됐을 뿐 아니라, 우발적 비상사태의 경우 외부비상정지버튼 (external emergency stop button) 을 탑재했다. 또한, 프로브 (Probe) 자체는 테스트 중인 장치에서 절연되어 장치를 손상시킬 수 있는 정적 방전 (Static Discharge) 을 방지합니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK MHF 300 L은 다양한 기능과 기능을 갖춘, 고도의 통합형 wafer prober 솔루션을 제공합니다. 정확한 모션 컨트롤 (Motion Control) 및 고품질 안전 기능을 통해 다양한 IC, 디스플레이 및 기타 반도체 장치를 테스트하는 데 이상적입니다. MHF 300L (MHF 300L: MHF 300L) 의 다양한 기능과 기능을 통해 생산 프로세스를 최적화하고 정확한 고성능 테스트 결과를 얻으려는 제조업체에게 이상적인 선택입니다.