판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 300L #9229764

ACCRETECH/TSK MHF 300L은 반도체 장치를 위해 설계된 모든 기능을 갖춘 전문가입니다. 이 솔루션은 웨이퍼 당 최대 8 개의 샘플을 사용하여 고속 프로브 및 샘플링 작업을 수행할 수 있습니다. 높은 Probing 정확성과 반복성은 장치 매개 변수의 안정적이고 반복 가능한 측정을 보장합니다. 이 장비에는 효율적인 작동을 위해 다양한 기능을 갖춘 컴팩트하고 설치하기 쉬운 하위 대기 작업 챔버 (work chamber) 가 포함되어 있습니다. 챔버에는 300mm 프로버 (prober) 가 포함되어 있으며, 매개 변수를 변경하지 않고 다양한 웨이퍼 크기와 함께 사용할 수 있습니다. 유연한 샘플 로딩 시스템은 다양한 샘플 로딩 장치 (예: 대규모 및 소규모 IC) 와 샘플 장치를 수용할 수 있습니다. 이 도구는 전체 샘플에 걸쳐 균일한 광원 분포로 조명을위한 LED 조명 장치 (LED lighting unit) 를 갖추고 있습니다. 이것은 고정밀 리소그래피 및 이미징을 포함한 다양한 프로브 작업에 이상적입니다. 이 도구에는 멀티 포인트 (multi-point) 조잡하고 미세 정렬 메커니즘이 장착되어 있어 샘플의 빠른 정렬 및 조정을 지원합니다. 이 기계에는 적외선 온도 감지 도구와 최대 250 ° C의 온도를 측정하는 열전대 (thermocouple) 도 포함됩니다. 통합 자동 초점 에셋을 사용하면 샘플 웨이퍼를 사용하여 프로버를 자세히 정렬 할 수 있습니다. 그런 다음 프로버는 미리 프로그래밍 된 경로를 따라 이동하여 전류, 전압, 정전 용량 및 기타 전기 매개변수를 측정 할 수 있습니다. TSK MHF300L은 원격 PC를 통해 쉽게 업로드 및 다운로드 할 수있는 프로그래밍 가능한 이진 언어 프로버를 제공합니다. 내장형 디지털 인터페이스를 통해 다양한 소프트웨어 플랫폼과 호환됩니다. 이 모델은 내장 RS232 포트를 통해 오실로스코프 (Oscilloscope) 또는 스펙트럼 분석기 (Spectrum Analyzer) 와 같은 다른 주변 장치와 통신 할 수도 있습니다. ACCRETECH MHF 300 L 또한 자체 테스트 프로그램을 통해 진단 루틴을 실행하고 성능을 보고할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 분석 및 데이터 아카이빙을 위한 데이터 내보내기 기능을 제공합니다. 향상된 장애 감지 (fault detection) 기능을 통해 샘플의 장애를 보다 빠르게 감지하고 파악할 수 있습니다. 전반적으로 MHF 300L은 반도체 장치 테스트를 위해 설계된 고급적이고 신뢰할 수있는 전문가입니다. 강력한 기능과 뛰어난 성능으로 고급 (Advanced) 조사, 샘플링 및 테스트 작업을 위한 이상적인 도구입니다.