판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 300L #9040805

ACCRETECH/TSK MHF 300L은 웨이퍼 레벨 테스트 및 측정 응용 프로그램을 수행하도록 설계된 완전한 기능의 광학 및 기계 전문가입니다. 이 프로버 (Prober) 에는 고급 풀 기능 전기 광학 서브 시스템이 장착되어 직경이 최대 300mm 인 대형 웨이퍼에 대한 정확하고 고속 테스트가 가능합니다. 특수한 기능은 고급 가상 (advanced virtual) 정렬을 사용하는 것으로, 기존의 기계적 (mechanical) 정렬 프로세스보다 훨씬 빠른 속도를 제공합니다. TSK MHF300L 은 플립 칩, Die Stair, Multi-Die 구성 등 다양한 테스트 및 측정 구성을 지원하도록 설계되었습니다. X-Y-Z 축 (X-Y-Z 축) 에는 광범위한 프로브 옵션뿐만 아니라 자동 로드 및 언로드를위한 프로그래밍 가능한 조작기가 있습니다. 고속 전기 광학 측정 시스템 (high-speed electro-optic measuring system) 을 통해, 프로버는 높은 정밀도로 전자 장치를 매우 정확하고 질적으로 분석 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 웨이퍼 레벨 비전 검사를위한 자동 광학 렌즈 시스템을 갖추고 있으며, 이는 기존의 수동 비전 검사 시스템 (Manual Vision Inspection System) 보다 더 높은 정도의 정확성을 가능하게한다. 프로버 (Prober) 는 다양한 측정 매개변수를 쉽게 설정하고 제어할 수 있는 통합 시스템 소프트웨어 (Integrated System Software) 로 설계되었습니다. 여기에는 접촉 실패율 (Contact Failure Rate), 프로브의 위치 및 방향 등을 기록하는 기능이 포함됩니다. 또한 직관적인 사용자 인터페이스와 강력한 스크립팅 (스크립팅) 기능을 통해 프로세스를 완벽하게 제어할 수 있습니다. 또한 Prober는 최신 활성 피드백 제어 (Active Feedback Control) 기술을 사용하여 탁월한 프로세스 제어를 보장하도록 설계되었습니다. 여기에는 프로브 (Probe) 및 웨이퍼 (Wafer) 표면의 실시간 피드백이 포함된 멀티 포인트 정렬 피드백이 포함되어 있어 매우 정확하고 반복성이 뛰어납니다. 또한 활성 피드백 제어 (Active Feedback Control) 는 프로브 프로세스의 변경 사항이 실시간으로 선전되도록 합니다. 즉, 다운스트림 (Downstream) 에서 변경된 내용에 관계없이 얻을 수 있는 결과가 동일하게 유지됩니다. 전반적으로 ACCRETECH MHF 300 L (ACCRETECH MHF 300 L) 은 테스트 및 측정 응용 프로그램에 대해 정확하고 정확한 측정이 필요한 사람들에게 훌륭한 증거입니다. 강력한 소프트웨어, 액티브 피드백 제어 (Active Feedback Control), 고급 일렉트로 옵틱 (Electro-Optic) 기능을 통해 최소한의 노력으로 최상의 결과를 얻을 수 있도록 설계되었습니다.