판매용 중고 ACCRETECH / TSK FP 3000 #293637098
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ID: 293637098
웨이퍼 크기: 6"-8"
빈티지: 2017
Prober, 6"-8"
Frame, 12"
Automatic loading
With wafer ID reader
Cassette, 25 Slots
Prober card changer
Self teach auto align
Automatic probe cleaning and continuity pad
Operating system: Windows 2000 / Windows XP / Windows 7
2017 vintage.
ACCRETECH/TSK FP 3000은 반도체 장치의 높은 정밀도 조사 및 테스트를 위해 설계된 기술적으로 향상된 최강의 Prober 장비입니다. 첨단 반도체 (Advanced Semiconductor) 장치를 기존의 테스트 방법보다 더 포괄적으로 테스트할 수 있는 다양한 통합 진단/분석 툴 (Diagnostics and Analysis Tools) 이 있습니다. 이 시스템에는 빠르고 정확한 동작 제어를 제공하는 4축 XYZT 웨이퍼 (XYZT Wafer) 프로버 스테이지가 장착되어 다양한 기판 크기에 걸쳐 고속 프로세스가 가능합니다. 또한, 이 장치는 최고 수준의 정밀도와 정확도를 달성하기 위해 다양한 진단 도구를 사용합니다. 이러한 도구에는 에지 정렬을위한 고급 비전 시스템, 결함 분석을위한 광학 현미경, FET 및 MOSFET 테스트를위한 고급 전기 테스트 코어, 결함 분류 및 분석을위한 레이저 기반 이미징이 포함됩니다. TSK FP 3000 의 고급 비전 (Advanced Vision) 기능을 통해 시야 제어를 개선하여 더 빠르고 정확하게 웨이퍼 및 구성 요소를 조정할 수 있습니다. 또한, 이 기계는 웨이퍼 처리 (Wafer Handling) 가 진행되는 동안 장치 표면을 최적으로 볼 수 있도록 하는 광 (Optical) 도구를 갖추고 있습니다. 또한, 자산의 광학 현미경 도구는 결함을 몇 미크론까지 감지 할 수 있으며, 단락, 개방 ,/또는 기타 복잡한 결함과 같은 다양한 범주로 분류 할 수 있습니다. 또한, 이 모델에는 FET 및 MOSFET 테스트용 전기 테스트 기능이 내장되어 있습니다. 즉, FET 및 MOSFET 테스트용 전기 테스트 기능이 내장되어 있습니다. 즉, 이러한 기술로 만든 장치는 기존의 테스트 방법보다 더 효율적이고 정확하게 테스트 할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 레이저 기반 이미징 기능을 제공하여 웨이퍼 및 장치의 결함을 쉽게 식별, 분류, 분석할 수 있습니다. 요컨대, ACCRETECH FP 3000 은 고급/신뢰성 있는 테스트 툴을 필요로 하는 모든 제조업체 또는 연구원에게 이상적인 Prober 시스템입니다. 반도체 (반도체) 소자 점검· 테스트와 관련하여 최고 수준의 정확성과 효율성을 보장한다. 이 장치는 최적의 결과를 얻기 위해 최대 정밀도, 출력, 안정성, 유연성을 제공합니다.
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