판매용 중고 ACCRETECH / TSK APM-90 #9273008

ACCRETECH/TSK APM-90 Prober는 반도체 장치 테스트, 광학 장치 테스트, RF 및 무선 장치 테스트, 패키지 테스트 등 다양한 어플리케이션을 위해 설계된 고성능 자동 웨이퍼 검사 솔루션입니다. TSK APM-90 은 다양한 기능과 기능으로, 완벽하게 자동화된 고정밀 웨이퍼 테스트를 지원합니다. ACCRETECH APM 90 Prober는 정밀 선형 액츄에이터를 사용하여 광범위한 웨이퍼 (wafer) 를 통해 상당한 수직 이동으로 정확한 프로브 포스트 높이를 조정하고 유지합니다. 이를 통해 프로브와의 정확한 웨이퍼 접촉을 보장하고, 로드 시간을 최적화하고, 주기 시간을 최소화할 수 있습니다. 액츄에이터에는 항상 일관되고 안정적인 접촉을 보장하기 위해 독특한 볼 잠금 (ball-lock) 메커니즘이 포함되어 있습니다. TSK APM 90 Prober에는 조정 가능한 자동 테스트 헤드 (Automated Test Head) 가 있어 최적의 성능을 위해 테스트 헤드, 고정 및 보드를 교환할 수 있습니다. 테스트 헤드는 고정밀 (high-precision) XYZ 연마 단계로 설계되어 정확한 조사 및 정렬이 가능하므로 정확한 데이터 수집이 가능합니다. 또한 ACCRETECH/TSK APM 90에는 TSK 자동화 소프트웨어가 포함되어 있어 사용자가 자동화된 testhead, 모니터 시스템 상태 및 기록 테스트 결과를 제어할 수 있습니다. APM-90에는 또한 다음과 같은 몇 가지 강력한 프로빙 기술이 장착되어 있습니다. ACCRETECH SV Probe, 접착제 기반 프로브, 고해상도 측정 및 안정적인 프로브 접촉력; 전통적인 프로브에 비해 독특한 장점을 제공하는 CNT (Carbon Nanotube) 프로브; 및 ACCRETECH/TSK는 큰 신호 (최대 1V) 프로브를 향상시키는 TEPS 자료를 특허했습니다. 전반적으로 ACCRETECH APM-90 은 혁신적인 Probe 기술과 자동화 기능을 결합하여 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 광범위한 웨이퍼, 패키지, 보드를 통해 정확하고, 자동화되고, 정확한 측정이 가능합니다. 안전한 Probe Contact 를 유지함으로써 APM 90 은 안정적인 데이터 수집, 검색, 테스트 주기 시간 단축을 보장합니다. ACCRETECH/TSK APM-90은 강력하고 강력한 wafer Probing 솔루션으로, 정확도가 높은 자동 테스트 결과를 제공하도록 설계되었습니다.