판매용 중고 ACCRETECH / TSK APM-60C #9396537

ACCRETECH/TSK APM-60C는 집적 회로의 전기 특성을 조사하고 검사하기 위해 설계된 비접촉 전문가입니다. 이 도구는 제품 평가, 특성, 집적 회로의 중대용량 생산 등 실리콘 웨이퍼 (silicon wafer) 및 기판 검사 및 테스트를위한 완벽한 기능을 제공합니다. TSK APM-60C는 최첨단 MRS (Multiprobe Robotic Equipment) 디자인을 갖추고 있습니다. MRS 메커니즘은 스캔 제어 장치와 광학 위치 시스템으로 구성됩니다. 광학 위치 지정 장치 (Optical Positioning Unit) 는 매우 정확한 정렬 및 반복성을 제공하는 반면, 제어 가능한 스캔 범위는 다이 당 최대 600 개의 다이를 조사하고 검사 할 수 있습니다. 시스템 비접촉 측정 기술은 개별 접합 커패시턴스 (Junction Capacitance) 및 저항을 측정하여 부품간 변동을 정확하게 감지 할 수 있습니다. 이는 신호 파형 (signal waveform) 을 분석하고 잠재적 프로파일 변형을 결정하는 고급 알고리즘을 사용하는 데 도움이됩니다. ACCRETECH APM-60C의 다른 주요 기능으로는 고속 데이터 획득, 동적 데이터 프로세서, 컬러 비디오 모니터 등이 있습니다. 데이터 획득 머신 (Data Acquisition Machine) 은 전압 및 전류 파형의 빠른 측정을 허용하는 반면, 데이터 프로세서는 연산자에 대한 측정 된 파형의 해석을 단순화합니다. 컬러 비디오 모니터를 사용하면 프로브 위치와 정렬을 보다 쉽게 검사할 수 있습니다. APM-60C 는 효율적이고 다양한 검사/조사 툴로서, 광범위한 IC 설계와 복잡성 수준에 적합합니다. 광범위한 프로브 (Probing) 기능과 결합하여 매우 정확한 Probe 및 Measing 기능을 통해 특성화, 어셈블리 검증, 결함 분석에 이상적인 툴이 됩니다. 이 솔루션은 결함 있는 제품과 관련된 비용의 절감을 통해 IC 프로세스 수익률을 높일 수 있는 효과적인 솔루션입니다.