판매용 중고 TERADYNE 1888 #9020548

TERADYNE 1888 (TERADYNE 1888) 은 테스트 주기를 줄이고 테스트 처리량을 늘리기 위해 빠르고 안정적인 테스트를 제공하기 위해 설계된 PC 보드 테스트 장비입니다. 이 시스템은 최적화된 고속 미세 피치 (Fine-Pitch) 프로빙 아키텍처를 갖추고 있어 고밀도 구성 요소를 사용하여 테스트 시간이 짧습니다. 업계 최고 밀도의 프로브 카드를 사용하면서 최대 신호 무결성을 위해 정확한 병렬 핀 테스트 (pin-test) 프로브를 제공합니다. 탁월한 핀 찾기 (pin find) 및 결함 격리 기능과 결합된 1888은 최고 신호 무결성 (signal integrity) 수준에서 최대 테스트 범위를 제공합니다. 이 장치의 고성능 (High Performance) 은 수십 개의 프로브에서 동시에 테스트 펄스를 적용하는 고속 병렬 핀 테스트 (Parallel Pin-Test) 프로브에 의해 활성화됩니다. 이를 통해 최소 초과 (over-drive) 의 높은 신호 무결성을 통해 시스템 소음을 줄이고 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. 이 기계는 또한 시간 제한, 장애 격리 펄스 온-펄스 오프 콜백 테스트 (time-limited, fault-isolated pulse on-pulse off callback test) 와 같은 복잡한 테스트를 지원하며, 이는 장애 격리 된 고 논리 테스트 응용 프로그램의 테스트 시간을 크게 줄일 수 있습니다. 테스트 보드를위한 빠르게 움직이는 시스템도 TERADYNE 1888의 열 관리 알고리즘의 혜택을받습니다. 각 컴포넌트의 온도를 감지하고, 사전 설정 알고리즘을 사용하여 최적의 테스트 조건을 결정함으로써, 이 도구는 더 빠르고, 더 안정적인 보드 테스트 결과를 제공할 수 있습니다. 또한 향상된 테스트 범위를 위해 FICT (Functional/In-circuit Testing) 와 같은 고급 테스트를 지원합니다. 이 자산은 또한 다양한 모델 액세서리로 안정성과 다양성을 보장합니다. 통합 테스트 스테이션 (Test Station) 에 가까운 액세서리를 수용할 수 있는 장비의 기능을 통해 설치/제어가 단순화되므로 테스트 셀에 추가 캐비닛이 필요하지 않습니다. 또한 시스템 실행 가능한 테스트 스크립트 및 원격 테스트 헤드 제어와 모듈식 테스트 통합을 제공합니다. 또한, C 기반 온보드 프로그래밍으로 고급 프로그래밍 및 디버깅을 지원하여 테스트 및 디버그 정확도를 향상시킵니다. 1888의 고급 테스트 기능은 확장 가능한 아키텍처로 보완됩니다. PXI 또는 VME에 대한 확장성을 제공하여 시스템을 확장할 수 있습니다. 여러 인터페이스와 시스템을 지원하므로, 여러 테스트 시스템을 동시에 제어할 수 있습니다. 탁월한 신호 무결성 (signal integrity) 과 빠른 테스트 시간 (fast test time) 을 결합한 이러한 기능은 보드 테스트 어플리케이션을 위한 최고의 테스트 솔루션을 제공합니다.